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两种后处理方法对HfO_2薄膜性能的影响 被引量:1
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作者 尚光强 王聪娟 +3 位作者 袁磊 贺洪波 范正修 邵建达 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第9期1683-1686,共4页
利用电子束蒸发和光电极值监控技术制备了氧化铪薄膜,并分别用两种后处理方法(空气中退火和氧等离子体轰击)对样品进行了处理.然后,对样品的透过率、吸收和抗激光损伤阈值进行了测试分析.实验结果表明,两种后处理方法都能不同程度地降... 利用电子束蒸发和光电极值监控技术制备了氧化铪薄膜,并分别用两种后处理方法(空气中退火和氧等离子体轰击)对样品进行了处理.然后,对样品的透过率、吸收和抗激光损伤阈值进行了测试分析.实验结果表明,两种后处理方法都能不同程度地降低了氧化铪薄膜的吸收损耗、提高了抗激光损伤阈值.实验结果还表明,氧等离子体轰击的后处理效果明显优于热退火,样品的吸收平均值在氧等离子体后处理前后分别为34 .8 ppm和9 .0 ppm,而基频(1 064 nm)激光损伤阈值分别为10 .0 J/cm2和21 .4 J/cm2. 展开更多
关键词 氧化铪薄膜 薄膜退火 抗激光损伤阂值 薄膜吸收
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