RS+卷积级联码抗脉冲干扰性能研究

介绍了一种典型的RS+卷积级联码的编码方式,讨论了编码的纠错能力,并结合该级联码的编/解码过程,推导出在此系统下脉冲干扰宽度与系统错码个数的关系,指出了对该系统进行脉冲干扰时的精确干扰宽度,包括干扰无效门限、干扰成功门限和一般干扰门限。仿真试表明文章得出的结论正确,当脉冲干扰宽度达到给定门限后,干扰结果与预期相符。