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液态感光抗电镀、抗蚀刻油墨应用研究 被引量:1
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作者 蒋耀生 《印制电路信息》 1998年第9期7-11,共5页
自90年代以来,随着集成电路的发展(LIC→VLIC→ULIC→ASIC)和组装技术的进步(插装→表面贴装→芯片组装),使PCB从材料、生产(工艺技术)、设备、测试等等都发生了巨大的变革和进步。PCB技术向高密度、高精度、细线条/细间距、高可靠、多... 自90年代以来,随着集成电路的发展(LIC→VLIC→ULIC→ASIC)和组装技术的进步(插装→表面贴装→芯片组装),使PCB从材料、生产(工艺技术)、设备、测试等等都发生了巨大的变革和进步。PCB技术向高密度、高精度、细线条/细间距、高可靠、多层化、高速传输、轻量、薄型方向发展;生产向提高生产率、降低生产成本、减少污染、适应多品种、小批量生产的方向发展。 目前,国外PCB生产技术已能成功生产钻孔孔径中φ0.2mm,线宽/线距0.05mm的双面及多层印制线路板。国内生产技术能生产线宽/线距、内层0.10~0.15mm,外层0.13~0.20mm;最小成品孔径φ0.6mm。针对市场的发展需求及我厂目前的技术水平,决定以提高线宽/线距的制作水平为突破口。 展开更多
关键词 抗蚀刻油墨 应用研究 图形转移 感光 丝网印刷 光聚合反应 印制板 多层印制线路板 理论体积 曝光机
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液态感光抗电镀/抗蚀刻油墨的应用研究 被引量:7
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作者 蒋耀生 《电子工艺技术》 1999年第1期12-16,共5页
以PER-800(B-106K)液态感光抗电镀/抗蚀刻油墨为例,介绍了其基本的工艺流程及其特点,阐述了在工艺操作过程中应注意的诸多影响因素,从而有效地保证产品的质量。
关键词 印制电路板 液态感光电镀 抗蚀刻油墨
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下世纪的抗蚀刻材料
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作者 周鹤年 《化工新型材料》 CAS CSCD 北大核心 1992年第2期26-30,共5页
半导体大规模集成电路的集成度以相当快的速度逐年提高。现已大量生产4M DRAM(最小线宽0.8μm),1991~1992年将大量生产16M DRAM(最小线宽0.5μm)的产品。集成度之所以能如此急剧地提高是与光刻技术的发展分不开的,而该技术则依赖于抗... 半导体大规模集成电路的集成度以相当快的速度逐年提高。现已大量生产4M DRAM(最小线宽0.8μm),1991~1992年将大量生产16M DRAM(最小线宽0.5μm)的产品。集成度之所以能如此急剧地提高是与光刻技术的发展分不开的,而该技术则依赖于抗蚀刻材料的开发。表1是短波长抗蚀技术中对抗蚀剂特性的要求,而下世纪在64M和256M DRAM的制作中,对抗蚀剂特性的要求将更高。在此就短波长紫外线光刻。 展开更多
关键词 抗蚀刻材料 集成电路
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液态感光抗蚀刻油墨
4
作者 林华君 黄美素 《中国新技术新产品》 2009年第10期12-12,共1页
介绍一种新型的液态光致抗蚀刻油墨的组成。
关键词 液态感光抗蚀刻油墨 感光树脂 热固树脂 树脂合成
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PCE-2002系列感光成像抗电镀、抗蚀刻油墨
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作者 李学魁 《丝网印刷》 2002年第4期20-21,共2页
关键词 PCE-2002系列 感光成像 电镀 抗蚀刻 油墨 印制电路板 应用
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热处理对ITO薄膜光电性能和抗蚀刻性的影响 被引量:1
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作者 张永爱 姚亮 郭太良 《福州大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2008年第4期523-526,共4页
利用不同的热处理温度对磁控溅射在玻璃基底的ITO薄膜进行退火处理.借助于原子力显微镜(AFM)、分光辐射计、四探针电阻测试仪等测试手段对不同热处理后的ITO薄膜样品进行表征,研究了不同热处理温度对ITO薄膜表面形貌、面电阻、透光率及... 利用不同的热处理温度对磁控溅射在玻璃基底的ITO薄膜进行退火处理.借助于原子力显微镜(AFM)、分光辐射计、四探针电阻测试仪等测试手段对不同热处理后的ITO薄膜样品进行表征,研究了不同热处理温度对ITO薄膜表面形貌、面电阻、透光率及抗刻蚀性能的影响.结果表明,随着退火温度的升高,ITO薄膜表面粗糙度增加,面电阻增大,在可见光区的透光率变大,耐刻蚀性增强. 展开更多
关键词 ITO 热处理 光电性能 抗蚀刻
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光成像抗电镀/抗蚀刻油墨的生产开发
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作者 赵天卓 姜海刚 《大化科技》 2006年第4期9-11,共3页
随着印制电路板行业的飞速发展.液态光致抗电镀/抗蚀刻油墨已遂渐成为精细导线图形制作的主要方法。综述了液态光致抗蚀刻/抗电镀油墨的组成、特性以及目前在我单位的发展情况。
关键词 印制电路板 光成像电镀/抗蚀刻油墨 蚀刻 电镀 生产 开发
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193 nm深紫外光刻胶用成膜树脂的研究进展 被引量:2
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作者 魏孜博 马文超 邱迎昕 《影像科学与光化学》 CAS 2020年第3期409-415,共7页
本文综述了用于193 nm深紫外光刻胶的主体成膜树脂的种类及常用合成单体的研究进展,包括聚(甲基)丙烯酸酯体系、环烯烃-马来酸酐共聚物(COMA)体系、乙烯醚-马来酸酐共聚物(VEMA)体系、降冰片烯加成聚合物体系、环化聚合物体系、有机-无... 本文综述了用于193 nm深紫外光刻胶的主体成膜树脂的种类及常用合成单体的研究进展,包括聚(甲基)丙烯酸酯体系、环烯烃-马来酸酐共聚物(COMA)体系、乙烯醚-马来酸酐共聚物(VEMA)体系、降冰片烯加成聚合物体系、环化聚合物体系、有机-无机杂化树脂体系以及光致产酸剂(PAG)接枝聚合物主链型等,并分析了目前关于曝光、分辨率和抗蚀刻性能方面存在的问题及未来的发展方向。 展开更多
关键词 光刻胶 成膜树脂 曝光 分辨率 抗蚀刻性能
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对硅片进行无抗蚀膜光化学蚀刻的一种新方法 被引量:1
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作者 杨杰 刘焰发 村原正隆 《中国激光》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第3期286-288,共3页
研究了一种在硅片上进行无抗蚀膜光化学蚀刻的新方法 ,使用过氧化氢 (H2 O2 )和氟酸 (HF)作为光化学媒质 ,使用ArF紫外激光作为光源 ,无需事先加工抗蚀膜 ,可直接在硅表面进行蚀刻。在H2 O2 与HF的浓度比为 1.3时 ,蚀刻效果最佳 ,当激... 研究了一种在硅片上进行无抗蚀膜光化学蚀刻的新方法 ,使用过氧化氢 (H2 O2 )和氟酸 (HF)作为光化学媒质 ,使用ArF紫外激光作为光源 ,无需事先加工抗蚀膜 ,可直接在硅表面进行蚀刻。在H2 O2 与HF的浓度比为 1.3时 ,蚀刻效果最佳 ,当激光能量密度为 2 9mJ/cm2 ,照射脉冲数为 10 0 0 0次时 ,得到 2 展开更多
关键词 硅片 蚀膜光化学蚀刻 半导体工艺
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Chemical etching process of copper electrode for bioelectrical impedance technology 被引量:2
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作者 周伟 宋嵘 +4 位作者 蒋乐伦 许文平 梁国开 程德才 刘灵蛟 《Transactions of Nonferrous Metals Society of China》 SCIE EI CAS CSCD 2012年第6期1501-1506,共6页
In order to obtain bioelectrical impedance electrodes with high stability, the chemical etching process was used to fabricate the copper electrode with a series of surface microstructures. By changing the etching proc... In order to obtain bioelectrical impedance electrodes with high stability, the chemical etching process was used to fabricate the copper electrode with a series of surface microstructures. By changing the etching processing parameters, some comparison experiments were performed to reveal the influence of etching time, etching temperature, etching liquid concentration, and sample sizes on the etching rate and surface microstructures of copper electrode. The result shows that the etching rate is decreased with increasing etching time, and is increased with increasing etching temperature. Moreover, it is found that the sample size has little influence on the etching rate. After choosing the reasonable etching liquid composition (formulation 3), the copper electrode with many surface microstructures can be obtained by chemical etching process at room temperature for 20 rain. In addition, using the alternating current impedance test of electrode-electrode for 24 h, the copper electrode with a series of surface microstructures fabricated by the etching process presents a more stable impedance value compared with the electrocardiograph (ECG) electrode, resulting from the reliable surface contact of copper electrode-electrode. 展开更多
关键词 bioelectrical impedance copper electrode chemical etching surface microstructures processing parameters
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刚挠结合板溢胶改善研究 被引量:3
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作者 赵永兴 赖艳玲 +3 位作者 王传兵 陈胜华 韩志伟 徐缓 《印制电路信息》 2021年第S01期179-186,共8页
文章研究刚挠结合板溢胶超标改善工艺,目前行业中刚挠结合板类型的产品叠构层间基本是使用lowflow半固化片材料,lowflow半固化片材料在经过基材传压就会有树脂胶产生。溢胶是刚挠结合板重要控制项目之一,由于溢胶超标直接影响到产品性... 文章研究刚挠结合板溢胶超标改善工艺,目前行业中刚挠结合板类型的产品叠构层间基本是使用lowflow半固化片材料,lowflow半固化片材料在经过基材传压就会有树脂胶产生。溢胶是刚挠结合板重要控制项目之一,由于溢胶超标直接影响到产品性能和外观,降低挠性板弯折次数。文章针对树脂溢胶问题点进行系统性讨论分析,提出对应改善方案对策,经过实验测试,证明了该方案有效,并应用到批量生产中。 展开更多
关键词 高温PI阻胶膜 溢胶 抗蚀刻油墨
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A New Approach to Cleave MEMS Devices from Silicon Substrates
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作者 Mehdi Rezaei Jonathan Lueke Dan Sameoto Don Raboud Walied Moussa 《Journal of Mechanics Engineering and Automation》 2013年第12期731-738,共8页
Dicing of fabricated MEMS (microelectromechanical system) devices is sometimes a source of challenge, especially when devices are overhanging structures. In this work, a modified cleaving technique is developed to p... Dicing of fabricated MEMS (microelectromechanical system) devices is sometimes a source of challenge, especially when devices are overhanging structures. In this work, a modified cleaving technique is developed to precisely separate fabricated devices from a silicon substrate without requiring a dicing machine. This technique is based on DRIE (deep reactive ion etching) which is regularly used to make cleaving trenches in the substrate during the releasing stage. Other similar techniques require some extra later steps or in some cases a long HF soak. To mask the etching process, a thick photoresist is used. It is shown that by applying different UV (ultraviolate) exposure and developing times for the photoresist, the DRIE process could be controlled to etch specific cleaving trenches with less depth than other patterns on the photoresist. Those cleaving trenches are used to cleave the wafer later, while the whole wafer remains as one piece until the end of the silicon etching despite some features being etched all the way through the wafer at the same time. The other steps of fabricating and releasing the devices are unaffected. The process flow is described in details and some results of applying this technique for cleaving fabricated cantilevers on a silicon substrate are presented. 展开更多
关键词 DICING cleaving MICROFABRICATION dry release exposure characterization deep reactive ion etching.
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