一种抗辐照试验测试系统中RS485总线IO卡设计

介绍了基于RS485总线的远程IO卡在抗辐照测试系统中的实现(主要用于瞬时剂量率抗辐照试验、总剂量抗辐照试验等),包括USB转RS485接口模块、RS485转IO卡控制模块。采用FT232与隔离型RS485驱动器实现USB转RS485;使用32位控制器STM32与RS485隔离型驱动作为远程端IO输出设备。研制的RS485总线IO卡作为抗辐照测试系统的重要组成部分,完成了瞬态剂量率、总剂量试验和中子试验,并得到了测试数据。通过实际抗辐照试验环境验证,该模块具有现场布线要求低,可靠性高的特点,满足应用需求。

基于亿门级UltraScale+架构FPGA的单粒子效应测试方法

UltraScale+架构FPGA采用16 nm FinFET工艺,功耗低且性能高,但存在粒子翻转阈值下降及多位翻转增多等风险。基于线性能量传输(LET)等效机理,选取^(7)Li^(3+)、^(19)F^(9)、^(35)Cl^(11,14+)、^(48)Ti^(10,15+)、^(74)Ge^(11,20+)、^(127)I^(15,25+)、^(181)Ta、^(209)Bi 8种重离子进行直接电离单粒子试验,建立单粒子闩锁(SEL)、翻转阈值、翻转截面及多位翻转的测定方法。结合LET通量及FinFET结构下的注射倾角,搭建甄别单位翻转及多位翻转的识别算法,能够实时处理并实现粒子翻转状态及多位翻转数据的可视化监控。所涉及的单粒子效应(SEE)分析方法能够较为全面地评估该电路的抗辐照特性。