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一种抗辐照试验测试系统中RS485总线IO卡设计
被引量:
3
1
作者
李超
庄伟
颜敏
《太赫兹科学与电子信息学报》
2017年第2期333-337,共5页
介绍了基于RS485总线的远程IO卡在抗辐照测试系统中的实现(主要用于瞬时剂量率抗辐照试验、总剂量抗辐照试验等),包括USB转RS485接口模块、RS485转IO卡控制模块。采用FT232与隔离型RS485驱动器实现USB转RS485;使用32位控制器STM32与RS48...
介绍了基于RS485总线的远程IO卡在抗辐照测试系统中的实现(主要用于瞬时剂量率抗辐照试验、总剂量抗辐照试验等),包括USB转RS485接口模块、RS485转IO卡控制模块。采用FT232与隔离型RS485驱动器实现USB转RS485;使用32位控制器STM32与RS485隔离型驱动作为远程端IO输出设备。研制的RS485总线IO卡作为抗辐照测试系统的重要组成部分,完成了瞬态剂量率、总剂量试验和中子试验,并得到了测试数据。通过实际抗辐照试验环境验证,该模块具有现场布线要求低,可靠性高的特点,满足应用需求。
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关键词
RS485总线
抗辐照测试
单片机
IO卡
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职称材料
ABS塑料注塑产品环境测试后异常现象的原因分析
2
作者
吴正环
周智勇
+3 位作者
金林奎
黎肖辉
刘淑意
宋高杰
《合成材料老化与应用》
CAS
2024年第4期22-24,61,共4页
通过对某品牌预上市的漱口水容器配件进行UV辐照暴露测试与抗漱口水测试,出现了外观发黄、磨砂外壳局部变透明、熔流结合线变粗,以及出现白色附着物等异常现象。使用金相显微镜与扫描电镜探索微观结构的演变情况,最终发现异常现象的原...
通过对某品牌预上市的漱口水容器配件进行UV辐照暴露测试与抗漱口水测试,出现了外观发黄、磨砂外壳局部变透明、熔流结合线变粗,以及出现白色附着物等异常现象。使用金相显微镜与扫描电镜探索微观结构的演变情况,最终发现异常现象的原因。研究表明:经过UV辐照暴露测试和抗漱口水测试后,光氧化降解导致外观发黄;抗漱口水中的乙醇溶解腐蚀ABS的丁二烯组分,以及ABS中含苯化合物向乙醇迁移导致磨砂外壳局部变透明、熔流结合线变粗;白色附着物为“泊洛沙姆407”因溶剂蒸发所形成的无法溶解的白色凝胶。
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关键词
UV
辐照
暴露
测试
与
抗
漱口水
测试
光氧化降解
乙醇溶解腐蚀
苯化合物迁移
不溶凝胶
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职称材料
基于亿门级UltraScale+架构FPGA的单粒子效应测试方法
被引量:
2
3
作者
谢文虎
郑天池
+1 位作者
季振凯
杨茂林
《电子与封装》
2022年第7期7-12,共6页
UltraScale+架构FPGA采用16 nm FinFET工艺,功耗低且性能高,但存在粒子翻转阈值下降及多位翻转增多等风险。基于线性能量传输(LET)等效机理,选取^(7)Li^(3+)、^(19)F^(9)、^(35)Cl^(11,14+)、^(48)Ti^(10,15+)、^(74)Ge^(11,20+)、^(127...
UltraScale+架构FPGA采用16 nm FinFET工艺,功耗低且性能高,但存在粒子翻转阈值下降及多位翻转增多等风险。基于线性能量传输(LET)等效机理,选取^(7)Li^(3+)、^(19)F^(9)、^(35)Cl^(11,14+)、^(48)Ti^(10,15+)、^(74)Ge^(11,20+)、^(127)I^(15,25+)、^(181)Ta、^(209)Bi 8种重离子进行直接电离单粒子试验,建立单粒子闩锁(SEL)、翻转阈值、翻转截面及多位翻转的测定方法。结合LET通量及FinFET结构下的注射倾角,搭建甄别单位翻转及多位翻转的识别算法,能够实时处理并实现粒子翻转状态及多位翻转数据的可视化监控。所涉及的单粒子效应(SEE)分析方法能够较为全面地评估该电路的抗辐照特性。
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关键词
FINFET
SRAM型FPGA
单粒子效应
多位翻转
抗辐照测试
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职称材料
题名
一种抗辐照试验测试系统中RS485总线IO卡设计
被引量:
3
1
作者
李超
庄伟
颜敏
机构
中国电子科技集团公司第
出处
《太赫兹科学与电子信息学报》
2017年第2期333-337,共5页
文摘
介绍了基于RS485总线的远程IO卡在抗辐照测试系统中的实现(主要用于瞬时剂量率抗辐照试验、总剂量抗辐照试验等),包括USB转RS485接口模块、RS485转IO卡控制模块。采用FT232与隔离型RS485驱动器实现USB转RS485;使用32位控制器STM32与RS485隔离型驱动作为远程端IO输出设备。研制的RS485总线IO卡作为抗辐照测试系统的重要组成部分,完成了瞬态剂量率、总剂量试验和中子试验,并得到了测试数据。通过实际抗辐照试验环境验证,该模块具有现场布线要求低,可靠性高的特点,满足应用需求。
关键词
RS485总线
抗辐照测试
单片机
IO卡
Keywords
RS485
anti-radiation experiment
Micro Controller Unit(MCU)
IO card
分类号
TN606 [电子电信—电路与系统]
TP336 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
ABS塑料注塑产品环境测试后异常现象的原因分析
2
作者
吴正环
周智勇
金林奎
黎肖辉
刘淑意
宋高杰
机构
国家模具产品质量检验中心
国家智能加工装备质量检验检测中心
天津职业技术师范大学汽车模具智能制造技术国家地方联合工程实验室
出处
《合成材料老化与应用》
CAS
2024年第4期22-24,61,共4页
基金
广东省基础与应用基础研究基金项目(项目编号:2021A1515111010)
东莞市社会发展科技重点项目(项目编号:20231800939882)。
文摘
通过对某品牌预上市的漱口水容器配件进行UV辐照暴露测试与抗漱口水测试,出现了外观发黄、磨砂外壳局部变透明、熔流结合线变粗,以及出现白色附着物等异常现象。使用金相显微镜与扫描电镜探索微观结构的演变情况,最终发现异常现象的原因。研究表明:经过UV辐照暴露测试和抗漱口水测试后,光氧化降解导致外观发黄;抗漱口水中的乙醇溶解腐蚀ABS的丁二烯组分,以及ABS中含苯化合物向乙醇迁移导致磨砂外壳局部变透明、熔流结合线变粗;白色附着物为“泊洛沙姆407”因溶剂蒸发所形成的无法溶解的白色凝胶。
关键词
UV
辐照
暴露
测试
与
抗
漱口水
测试
光氧化降解
乙醇溶解腐蚀
苯化合物迁移
不溶凝胶
Keywords
UV irradiation exposure testing and anti mouthwash testing
photooxidative degradation
dissolu-tion and corrosion of ethanol
migration of benzene compound
insoluble gel
分类号
TQ322.3 [化学工程—合成树脂塑料工业]
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职称材料
题名
基于亿门级UltraScale+架构FPGA的单粒子效应测试方法
被引量:
2
3
作者
谢文虎
郑天池
季振凯
杨茂林
机构
无锡中微亿芯有限公司
出处
《电子与封装》
2022年第7期7-12,共6页
文摘
UltraScale+架构FPGA采用16 nm FinFET工艺,功耗低且性能高,但存在粒子翻转阈值下降及多位翻转增多等风险。基于线性能量传输(LET)等效机理,选取^(7)Li^(3+)、^(19)F^(9)、^(35)Cl^(11,14+)、^(48)Ti^(10,15+)、^(74)Ge^(11,20+)、^(127)I^(15,25+)、^(181)Ta、^(209)Bi 8种重离子进行直接电离单粒子试验,建立单粒子闩锁(SEL)、翻转阈值、翻转截面及多位翻转的测定方法。结合LET通量及FinFET结构下的注射倾角,搭建甄别单位翻转及多位翻转的识别算法,能够实时处理并实现粒子翻转状态及多位翻转数据的可视化监控。所涉及的单粒子效应(SEE)分析方法能够较为全面地评估该电路的抗辐照特性。
关键词
FINFET
SRAM型FPGA
单粒子效应
多位翻转
抗辐照测试
Keywords
FinFET
SRAM FPGA
single event effect
multi bit upset
irradiation resistance test
分类号
TN47 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
一种抗辐照试验测试系统中RS485总线IO卡设计
李超
庄伟
颜敏
《太赫兹科学与电子信息学报》
2017
3
下载PDF
职称材料
2
ABS塑料注塑产品环境测试后异常现象的原因分析
吴正环
周智勇
金林奎
黎肖辉
刘淑意
宋高杰
《合成材料老化与应用》
CAS
2024
0
下载PDF
职称材料
3
基于亿门级UltraScale+架构FPGA的单粒子效应测试方法
谢文虎
郑天池
季振凯
杨茂林
《电子与封装》
2022
2
下载PDF
职称材料
已选择
0
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