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题名基于抗辐照xxMHz芯片仿真验证技术研究
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作者
何彩霞
夏开华
王巍
韩学涛
梁富
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机构
中国电子科技集团公司第二十九研究所
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出处
《数字技术与应用》
2018年第2期101-103,共3页
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文摘
本文设计了基于抗辐照xxMHz芯片全套仿真验证流程,包括FPGA代码验证、芯片板级验证和抗辐照试验验证。首先重点介绍了FPGA代码验证,从验证在现代IC流程中的重要地位开始,到验证的基本方法,仿真验证平台的搭建,FPGA后端验证,提炼了高效通用的仿真验证平台的搭建。其次简单介绍了芯片板级验证。最后简单介绍了抗辐照试验验证。
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关键词
抗辐照芯片
FPGA代码验证
芯片板级验证
抗辐照试验验证
高效通用的仿真验证平台
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Keywords
anti-irradiation chip
FPGA code verification
chip board level verification
anti-irradiation verification
efficient and general simulation verification platform
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分类号
TP332
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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题名一种用于筛选高可靠性FPGA的硬件测试电路
被引量:2
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作者
张磊
贺强民
包斌
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机构
北京空间机电研究所
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出处
《电子测量技术》
2015年第2期68-73,共6页
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文摘
在空间遥感器电子产品设计中,对电子产品可靠性的要求越来越高,通过老炼试验和其他环境试验,从低等级电子元器件中筛选出符合要求的高等级电子元器件是目前航空航天行业普遍采用的一种方法。提出一种FPGA筛选测试电路,结合老炼试验及抗辐照试验,可从低等级FPGA中筛选出具有高可靠性和抗辐照特性的高等级FPGA芯片。该筛选测试电路在实际应用过程中,能够全面覆盖被筛选FPGA的所有关键电气特性,筛选测试结果能够准确反映被筛选FPGA在老炼试验和抗辐照试验前后的性能变化。
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关键词
高可靠性
筛选测试电路
老炼试验
抗辐照试验
FPGA
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Keywords
high-reliability
screening test circuit
Burn-In Test
Radiation Exposition Test
FPGA
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分类号
TN7
[电子电信—电路与系统]
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