NoC架构下异构IP核的并行测试方法

NoC(Network-on-Chip)中的异构IP核互连架构导致其测试应用时间过长,并行测试技术成为解决这个问题的最佳方案.本文提出了基于NoC架构的异构IP核并行测试方案,实现了异构IP核的高效并行测试.首先利用折叠分区方法将网络分区,提高测试传输并行性,然后通过顺序移位匹配算法将各异构IP核的测试集进行合并,实现测试集的精简和同构化,最后以多播方式将测试数据注入到网络中,实现测试应用的并行.实验结果显示,相比于文献[13,14],本文方法的测试时间减少了17.6%-40.47%,且实现简单.