基于折叠计算的多扫描链BIST方案

为了减少测试数据的存储需求并降低测试应用时间,提出一种以折叠计算为理论的多扫描链BIST方案.首先利用输入精简技术在水平方向上压缩测试集,确定相容扫描链,在测试过程中对相容扫描链中的数据进行广播;然后利用折叠计算理论对测试集进行垂直方向上的压缩,使得同一折叠种子生成的相邻测试向量仅有1位不同,且在测试过程中测试向量并行移入多扫描链.在ISCAS标准电路上的实验结果表明,该方案的平均测试数据压缩率为95.07%,平均测试应用时间为之前方案的13.35%.

选择序列的并行折叠计数器

为了减少测试应用时间并保证高测试数据压缩率,提出一种选择序列的并行折叠计数器。在分析并行折叠计算理论的基础上,通过记录表示折叠索引的组序号和组内序号生成选择状态的测试序列,避免了无用和冗余的测试序列的生成。ISCAS标准电路的实验结果表明,该方案的平均测试数据压缩率为94.48%,平均测试应用时间为类似方案的15.31%。