浅层多次折射发育机理与地震资料采集方法探讨

本文提出了一种度量浅层多次折射发育程度的新指标——多次折射盲区连线斜率 ,并建立了浅层多次折射与近地表结构之间的明确关系 ,进而总结形成了一套较为科学、严密的采集参数试验、分析与优化方法。应用此方法在折射发育区的地震数据采集中见到了良好效果。