用拉伸膨胀等方法研究非晶薄带的结构弛豫及晶化

主要介绍用拉伸膨胀法测量非晶薄带弛豫和晶化过程的结果及其可靠性，并结合电阻和Ｘ射线衍射实验讨论得到的重要结论。