镁合金微弧氧化持续电弧对膜层的破坏机制

为了避免微弧氧化(MAO)过程中的持续电弧放电对膜层的破坏,使用高速摄像机拍摄放电现象,结合负载的电流、电压波形探究持续电弧放电的实质,并研究了膜层被破坏区域的表面、截面形貌及相组成相对于正常膜层的变化,最后搭配不同的占空比和频率,探索出电参数对持续电弧放电现象的影响规律。结果表明:在微弧氧化过程中,试样表面呈现出燃弧-熄弧-冷却的往复过程,而膜层局部破坏区域则表现为连续的电弧放电现象。局部持续电弧放电区域的组分结构、表面形貌、截面形貌及元素分布均与正常微弧氧化膜层有很大差异,该膜层的均匀性、致密性和完整性均被破坏,导致膜层整体的均一性丧失,甚至造成试样的外形尺寸发生严重的损伤。负载的电容特性导致电弧持续时间过长而熔融金属氧化物的冷却时间不足,局部热交换不充分和热量集中是造成持续电弧破坏根本原因。该破坏发生后无法修复,然而可以通过对频率和占空比的合理搭配,在不同的处理电压下避免持续电弧破坏现象的发生。

银金属氧化物触点材料电弧侵蚀退化机制研究进展

本文简述了银金属氧化物触点材料的发展历程,综述回顾了典型材料在服役过程中的电弧光谱特性、表面侵蚀结构演化、材料性能参数以及电弧侵蚀退化机制等方面的研究。结果表明:电弧持续时间、材料转移(或材料质量损失)、接触电阻等特征参数是导致电接触材料失效的关键因素,对电接触材料性能退化起到了决定性作用;优化灭弧室构造、非对称性配对、掺杂改性或引入磁性相等技术手段可以降低电弧持续时间,减轻表面烧蚀程度;借助电弧光谱学、数值计算与模拟仿真等技术,构建了触点材料的失效模式,包括“蒸发-分解-熔桥-喷溅”侵蚀模式、颗粒飞溅-沉积、常量k值模型等,在此基础上归纳了触点材料的设计原理与关键影响因素,为原创性研发全面替代Ag/CdO的高性能电接触材料奠定理论与应用研究基础。

一起电缆故障引发母线弧光短路的分析处理

本文通过事故案例对电缆线路发生短路故障而引发的低压配电柜母线弧光短路致人面部烧伤事故,从多方面进行了详实地分析,并确定了事故原因、处理方法和防范措施,为从事该项工作的检修技术人员提供现场经验参考。