基于FPGA的指令测试模块的设计与实现

为保证宇航产品的可靠性,对产品的各种指令信号进行了全面长时间的测试,提出并设计了一种基于FPGA的指令测试模块。方案采用可编程逻辑器件(FPGA)作为核心控制电路,结合EDA技术和硬件编程语言(VHDL)对输入指令的类型及宽度进行实时采集,并可实时输出多路脉宽及类型可控的指令信号。模块采用标准CPCI总线3U架构,具有通用性强、可靠性高、实时性强的优点,可满足各种宇航型计算机对输入、输出指令信号的测试需求。

基于单片机和CPLD的飞行指令测试仪的设计

为解决某型武器系统飞行指令手持测试仪故障频发等问题,结合单片机以及CPLD的优点,以原电路的功能和指标作为设计的需求和指标,用单片机替代原模块电路的嵌入式主控计算机,用CPLD替代复杂的逻辑电路,设计了飞行指令测试仪。通过设计单片机并行扩展电路、脉冲宽度捕抓电路、脉冲宽度以及周期计数电路、移位电路及FIFO电路,完成了功能电路的设计,MAX+PLUSⅡ仿真结果表明:电路设计实现了功能,测试结果满足要求。经过现场测试和实际应用,在功能上和测试精度上完全达到要求,并且功耗低,设备便携性好,具有一定的推广应用价值。

基于微指令覆盖的最小指令集测试算法

着重讨论了如何利用微处理器中的自测试设计来缩短功能测试序列的长度 .首先 ,依据指令的表示模型 ,将指令测试分成微指令序列和微指令执行两个测试层次 ,提出了一个基于微指令覆盖的最小指令集测试算法 ,只需检测指令集的一个子集就能达到指令测试的目的 .然后 ,通过定义指令的测试代价和测试效率 ,提出了一个可以有效地选择最小测试指令集的方法 .最后 ,将算法应用于 NRS40 0 0微处理器的功能测试 ,仅为传统的全指令集测试序列的 37.7% .

8051、ARM和DSP指令周期的测试与分析

在实时嵌入式控制系统中,指令周期对系统的性能有至关重要的影响。介绍几种最常用的微控制器的工作机制,采用一段循环语句对这几种微控制器的指令周期进行测试,并进行分析比较。分析结论对系统控制器的选择有一定的指导作用。

快速匹配算法在测试指令专家系统中应用

文中提出用于产生式专家系统中的快速匹配算法,该算法以Rete算法为基础,简化匹配网络,使得算法的实现更方便,并且提高模式匹配的效率。

CDMA手机测试指令及解锁

N299、A399、A599、A539手动解锁: *759#813580#进入工厂模式按29,过两三分钟锁自动解除(如果不能解除只能用软件读出密码)。 A599、A399、A539、N299主清除: M+*+123580+0选择'是'即可。删除SIM卡操作记录M+9+7+0000+6+3。软件版本M+*+123580+9。 A809主清除: M+#+123580+#+OK 三星X219、X209指令改变测试模式 (1)将电话状态从正常模式更改到测试模式,需要输入代码:*759#813580。 (2)命令'21'是模式和频道转换。 '20283'20→cdma模式,283→频道按OK键存储。 (3)命令'01'暂停。

迪比特手机解锁及测试指令

一、迪比特2017解锁方法装卡开机,等信号出现时把电池稍微向上抬起,同时按112然后按发射,此时快速把SIM卡向前推动一下,然后再拉回来,手机一闪'请稍等'后进入待机状态,若关闭不了话机锁,关机后再试。进入手机正常使用状态下,输入#*80#进入测试模式,再输入#761#格式化即可取消手机锁。二、迪比特2009/2017测试指令手动测试模式1(一般SIN卡或测试SIN卡)

SN74ACT8990芯片在数字电路测试中的应用

SN74ACT8990作为测试总线控制器,主要用于测试数据的交互,是基于边界扫描技术的数字电路测试的核心部件;为了解决上述新兴测试技术在实际应用方面研究的不足,首先介绍了芯片的功能、基本结构以及工作原理;从硬件电路和程序设计两个方面,分别详细地介绍了一个典型的基于SN74ACT8990边界扫描测试系统的设计方法及过程;最后利用测试指令扫描和互连测试对设计的测试系统进行了功能验证;结果表明,在数字电路测试中,采用基于SN74ACT8990的边界扫描技术能够准确地定位故障,并能初步判断故障类型,具有较高的测试效率和广阔的应用前景。

IP软核测试策略及验证方案研究

近年来,芯片的设计不断向着功能增强和集成度提高的方向发展,SoC(System on Chip,片上系统)开发模式逐渐成为主流,芯片性能增强、规模增大以及产品设计的周期缩短使得设计难度逐渐增加。在此情况下,IP软核应运而生,至2005年基于IP核设计的集成电路已经占总设计的80%,IP核成为SoC开发的主流途径已势不可挡。IP(Intellectual Property)核,也称集成电路知识产权核。指ASIC、PLD等当中预先设计好的电路功能模块,它灵活性大,具有良好复用性与可移植性,接口灵活。本项目即选择单片机芯片中具有代表性的1750 IP软核作为研究对象。为确保IP软核的可靠性,对IP软核进行系统验证具有十分深远而重要的意义。本文根据IP软核的特点与现状,总结IP软核的验证方法 ,分析IP软核的验证策略,提出完整的1750IP软核验证方法。并采用脚本验证与自动日志比对的方法以提高验证效率。

随机测试程序发生器的设计与实现

随机测试程序生成技术是当前处理器功能验证中一项重要的支撑技术.本设计面向一种专用指令集处理器FlexEngine,在指令集模型建立时,按功能分类,实现对处理器关键单元的选择性测试;引入ISS对指令执行的动态数据分析,增加了寄存器数据范围监控、死循环预警等指令约束.实验结果表明,本设计的选择性测试功能,能够在3000条程序的测试长度下,对关键模块达到超过90%的覆盖率,有效提高了测试效率.

基于Z路径覆盖的测试用例自动生成技术研究

路径覆盖是白盒测试中覆盖率最高的一种覆盖方法,但由于其生成的路径过多,很难应用到实际测试中。Z路径覆盖是路径覆盖的一个变体,可有效解决路径覆盖过多的难题。结合指令块测试思想和动态数据自动生成算法,提出基于Z路径覆盖的测试路径和测试用例自动生成技术。

基于ATE的DSP测试方法

本文以TI公司的DSP5509A为例,介绍了在ATE上开发DSP芯片的测试程序的思路和方法。本文论述的DSP功能模块的测试算法,指令测试方法,脱机开发DSP功能诊断程序的方法已经在国产BC3193V50集成电路测试系统上运用,结果表明是有效的。其中针对DSP功能模块的测试算法以穷举为出发点,具体实现方式包括基本测试模块的反复调用,同模块内所有属性的遍历测试,不同模块间属性的交叉组合测试。最后本文论述了测试程序在不同测试系统移植中需要注意的问题。

SPARC体系结构处理器测试方法研究与实现

处理器离线测试广泛采用随机测试技术,但是随机测试技术生成大量测试代码,并且测试覆盖率不高;主要针对随机测试的不足,借鉴基于软件内建自测试方法建立处理器模块级于系统级功能模型,后分析功能模型可能发生错误,针对错误模型开发测试代码来提高错误覆盖率;经测试,模块级测试覆盖到所有功能点,达到功能模块100%测试,系统级的测试覆盖到SPARC V8的所有指令异常、正常测试用例;测试结果表明,所采取的测试方案对提高错误覆盖率是行之有效的。

国产手机指令大全

V09解锁：早期的版本不放卡开机，输入“753”进人工程模式后恢复出厂设置即可；新版本需要在无卡状态下开机，按“*下下下上上上”(导航键的上下键)进人工程模式后恢复出厂设置，必须连续操作两次，然后放人SIM卡开机，无需要输入密码，此时手机密码恢复为初始密码“0000”

彩屏手机常用指令

输入“*#9998*627837793#”；再键入“*#9998*737#”；按向上键找到PUK有一个9位的数字，用笔去掉第一位后记下；键入“#0149+记下的8位密码#”

摩托罗拉手机指令大全

C300解锁万用码：输入“20020801”或“20030801” C300查看软件版本：输入“*#300#”+拨号键 C300进测试模式：输入“*#301#”+拨号键 C300进入系统：输入“*#308#”；查看版本：输入“*#309#”

摩托罗拉手机测试卡

摩托罗拉公司有一种特殊的SIM卡，能够完成摩托罗拉系列GSM手机的人工测试工作。其主要的作用是使话机进入测试状态，然后通过手机的键盘输入各种测试指令，话机置成某种状态，以便对话机的各部分进行检测，但要求话机必须能正常开机，否则将无法使用测试卡。测试卡有一百多条测试指令，但在实际的维修中，常使用的大概二十条左右。

三星CDMA手机测试指令（上）

与维修软件一样．测试指令也可以实现对电路的控制。三星CDMA手机可以通过测试指令控制某些电路工作在维修人员所需要的状态下，以方便进行故障检修。