指数型元件贮备系统可靠性的近似置信限

基于元件的定数截尾寿命试验数据 ,切换开关的成败型试验数据 ,给出了指数型元件贮备系统可靠性的近似置信下限的计算公式。

指数型元件的贮存可靠性的置信限

基于元件的定期检测数据，不确定数据，通过把各检测时刻的元件的试验数据，折合成ｔ时刻下元件的伪试验数据来确定元件的贮存可靠性的置信限。给出的数字例并进行了模拟计算，证实新方法效果偏好，操作方便。

基于无失效数据的指数型元件及系统的可靠性置信限

设指数寿命型元件有成败型试验数据 :在ti 时刻随机抽取Ni 个元件试验 ,结果无失效元件。基于试验数据 (ti,Ni,Ni) (i=1,k) 。

基于检测数据的指数型元件贮存可靠性的置信限

为了评估元件或产品在贮存期间的可靠性，我们要对元件进行检测．一般地，在ti时刻检测ni个元件，设每次检测的正确率为ri，（ri已知，ri＞1／2）．检测结果成功的元件数为si（i＝1，k）．本文将基于此类数据，给出一种方法，来确定元件的贮存可靠性的置信下限，并给出了数字例．

指数寿命型元件串联系统可靠信置信限

设Ａ是由ｋ个相互独立的指数型元件串联而成，设第ｉ个元件的寿命服从参数为λｉ的指数分布，λｉ＞０，未知，ｉ＝１，２，…，ｋ，设对第ｉ个元件，在时刻ｔｉ，进行了Ｎｉ次独立试验，成功数为Ｓｉ（ｉ＝１，２，…，ｋ），本文研究基于数组（ｔｉ，Ｎｉ，Ｓｉ）ｉ＝１，２，…，ｋ求串联系统Ａ之可靠性的经典精确置信下限以及近似Ｆｉｄｕｃｉａｌ置信下限．

指数寿命型元件串联系统可靠性的置信限

设有失效率分别为λ_i(未知i=1,2,…n)的n个指数寿命型元件组成的串联系统;又设此系统中的每个元件有随机定时截尾寿命试验数据。基于元件的试验数据,给出了用修正的LP排序法计算此串联系统可靠性的置信下限的公式。