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参数设定对原子力显微镜测试的影响
被引量:
6
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作者
李洁爱
徐凌云
《分析仪器》
CAS
2013年第2期35-40,共6页
研究了不同的测试模式、线扫描点、扫描速率、积分增益和振幅设置对原子力显微镜测试的影响,比较了在不同的测定参数下样品的成像质量、槽深和粗糙度。结果表明,随着线扫描点的增加和扫描速率的降低,成像所需的扫描时间也随之增加,但扫...
研究了不同的测试模式、线扫描点、扫描速率、积分增益和振幅设置对原子力显微镜测试的影响,比较了在不同的测定参数下样品的成像质量、槽深和粗糙度。结果表明,随着线扫描点的增加和扫描速率的降低,成像所需的扫描时间也随之增加,但扫描点越多,图像越精细。积分增益越大,系统响应的越快,但系统的噪音也会随之增加。振幅设置对软样品的影响比对硬样品的大。结合实际操作,还简单介绍了一些原子力显微镜测试的经验。
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关键词
积分增益轻敲模式
扫描速率
原子力显微镜
振幅设置
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职称材料
题名
参数设定对原子力显微镜测试的影响
被引量:
6
1
作者
李洁爱
徐凌云
机构
苏州大学分析测试中心
出处
《分析仪器》
CAS
2013年第2期35-40,共6页
文摘
研究了不同的测试模式、线扫描点、扫描速率、积分增益和振幅设置对原子力显微镜测试的影响,比较了在不同的测定参数下样品的成像质量、槽深和粗糙度。结果表明,随着线扫描点的增加和扫描速率的降低,成像所需的扫描时间也随之增加,但扫描点越多,图像越精细。积分增益越大,系统响应的越快,但系统的噪音也会随之增加。振幅设置对软样品的影响比对硬样品的大。结合实际操作,还简单介绍了一些原子力显微镜测试的经验。
关键词
积分增益轻敲模式
扫描速率
原子力显微镜
振幅设置
Keywords
integral gain
tapping mode
scan rate
atomic force microscope
amplitude set-point
分类号
TH742 [机械工程—光学工程]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
参数设定对原子力显微镜测试的影响
李洁爱
徐凌云
《分析仪器》
CAS
2013
6
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