颗粒膜量子磁盘热稳定性的损伤扩散研究

利用损伤扩散方法研究了颗粒膜量子磁盘的热稳定性。考虑颗粒尺寸和位置的涨落并用Voronoi模型近似描述颗粒点阵。颗粒形状近似为扁圆柱形量子线,其磁矩垂直于薄膜平面。推导了颗粒间静磁相互作用的表达式。蒙特卡洛模拟表明,颗粒间的长程相互作用使损伤很难扩散,系统稳定性增强,而颗粒半径的涨落也利于系统的热稳定。

铁磁纳米阵列膜温度稳定性的损伤扩散研究

利用损伤扩散方法研究了三角点阵量子磁盘的温度稳定性问题.为建立实际体系的伊辛模型,我们作了三方面考虑:1)计入自旋间的长程相互作用;2)考虑纳米线阵列中纳米线长度的不一致性,3)推导出矫顽力与自旋交换常数间的关系并利用矫顽力定量估算出自旋交换常数的数值.模拟结果表明,自旋间的作用范围越长,损伤扩散越难,即稳定性越好;而纳米线的长度混乱度越大,温度稳定性越差.