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S校正电容器损耗测试频率分析
被引量:
1
1
作者
储松潮
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
1998年第3期36-37,39,共3页
通过试验和分析说明彩电用S校正电容器tgδ的测试频率为1kHz是不合适的,应选用更高一些的频率。当选用10kHz测试,tgδ控制在40×10-4以下比较合适。
关键词
金属化
聚丙烯电容器
S校正
损耗-频率特性
下载PDF
职称材料
题名
S校正电容器损耗测试频率分析
被引量:
1
1
作者
储松潮
机构
安徽铜峰电子股份有限公司
出处
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
1998年第3期36-37,39,共3页
文摘
通过试验和分析说明彩电用S校正电容器tgδ的测试频率为1kHz是不合适的,应选用更高一些的频率。当选用10kHz测试,tgδ控制在40×10-4以下比较合适。
关键词
金属化
聚丙烯电容器
S校正
损耗-频率特性
Keywords
metallized polypropylene capacitors, S correction, DF frequency characteristic
分类号
TM533.1 [电气工程—电器]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
S校正电容器损耗测试频率分析
储松潮
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
1998
1
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职称材料
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