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S校正电容器损耗测试频率分析 被引量:1
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作者 储松潮 《电子元件与材料》 CAS CSCD 1998年第3期36-37,39,共3页
通过试验和分析说明彩电用S校正电容器tgδ的测试频率为1kHz是不合适的,应选用更高一些的频率。当选用10kHz测试,tgδ控制在40×10-4以下比较合适。
关键词 金属化 聚丙烯电容器 S校正 损耗-频率特性
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