X射线衍射技术在纸张、纸质文物分析和保护研究中的应用

X射线衍射(XRD)技术作为一种研究物质微观结构的重要手段,在纸张、纸质文物分析和保护研究中有重要的应用,其应用范围不断得到拓展。在纸张、纸质文物分析和保护研究中使用XRD可充分体现其检测时使用所具有的样品用量少、操作简单可行、在检测过程中不会损伤和污染样品等优点。本文对XRD在纸张纤维、填料、涂料、表面颜料检测及其在造纸、纸张鉴定、文物研究与保护等领域中的应用进行了分类介绍。虽然XRD对分析纸张结构信息具有重要作用,适用于样品量少且珍贵的纸张、纸质文物,但该技术在测试范围、多组分物质复合衍射图分析、填料成分细致化鉴别等方面还存在局限,可结合其他方法使用,以便得到被检测物更全面、准确的信息。

同步辐射X射线掠入射衍射实验技术及应用

利用北京同步辐射装置漫散射实验站的五圆衍射仪，建立了掠入射X射线衍射实验方法。对Si表面生长的Ge/Si量子点及其在Si表层产生的应变进行了成功测量，表明此方法可以有效地提取表面层的微弱信号。实验结果表明，Ge/Si量子点的形成除了在Si衬底表层形成了晶格具有横向膨胀应变的区域之外，还在Si衬底中形成了具有横向压缩应变的区域。

基于X射线衍射技术的岩石矿物物相分析

本研究的目的是提升地质学和矿产资源勘查的精确度,通过对X射线衍射技术在岩石矿物物相分析应用的深入探讨,揭示了该技术在高精度和非破坏性方面的明显优点。本文详述了这一技术在岩石矿物组分识别,定量分析及晶体结构参数测定中的具体方法,论述了它在地质勘探及矿产资源评估中广阔的应用发展前景。该研究对相关方面的研发提供扎实的理论支撑及强大的技术支持。

3C-SiC/Si(111)的掠入射X射线衍射研究

在衬底温度为1000℃条件下,利用固源分子束外延(SSMBE)技术在Si衬底上生长3C-SiC单晶薄膜.RHEED结果显示在Si(111)上所生长的SiC薄膜为3C-SiC,并与衬底的取向基本一致.采用同步辐射掠入射X射线衍射(GID)技术并结合常规X射线衍射(XRD)研究了SiC薄膜内的应变和晶体质量.常规衍射的联动扫描曲线得到薄膜处于双轴张应变状态.3C-SiC薄膜和Si衬底的晶格失配和热膨胀系数失配是导致双轴张应变的原因.根据不同角度的掠入射衍射Phi扫描的摇摆曲线结果,发现薄膜晶体质量在远离SiC/Si界面区变好.这是由于SiC薄膜中的缺陷随着远离界面逐渐减少的原因.GID和XRD的摇摆曲线结果表明薄膜中镶嵌块的倾斜大于扭转,表明SiC薄膜在面内的晶格排列要比垂直方向更加有序.

用粉末X射线衍射技术研究溶液结构的新方法 ⅡLi2SO4溶液的结构函数

本文叙述了用θ- 2θ粉末衍射仪精确测定获得的 Li2 SO4 溶液实验衍射强度数据的校正方法和计算溶液结构函数 i(s)的具体步骤。由积分法和高角法联用获得了优化的标度因子 0 .2 62

用粉末X射线衍射技术研究溶液结构的新方法Ⅲ Li_2SO_4溶液的径向分布函数与模型计算

本文用折合强度和径向分布函数概念分析了由粉末 X射线衍射技术测量的Li2 SO4· 2 0 H2 O溶液强度数据 ,讨论了径向分布函数的主要误差来源 ,给出了 1 5nm- 1 ≤s≤ 1 65nm- 1 范围内获得的由最小二乘法精修的溶液结构模型参数。

X光透镜在X射线衍射技术中的应用

用整体平行束X光透镜代替常规衍射仪的索拉狭缝和/或附加狭缝,入射和衍射X光强度可提高1.5―3.5倍,分辨率可达0.4°,可用于薄膜、粉末样品和离子束沉积样品的分析。将微会聚X光透镜应用于生物大分子衍射、高压X射线衍射、四圆X射线衍射3个不同的衍射领域,在相同X光源功率条件下,使用X光透镜后的衍射强度提高到原来的3―10倍,信噪比和分辨率有不同程度的改善。

X射线衍射技术应用于宝石鉴定-合成及晶体结构研究进展

因宝石检测常附带无损要求、宝石评价具科学性和不确定性等特点,X射线衍射（XRD）在宝石学这门矿物学的分支学科中的应用具有特殊性,其应用领域主要集中在三个方面.①宝石鉴定领域：对单晶宝石和多晶宝石进行物相鉴定、宝石产地特征研究以及宝石矿物多型的种类划分等.例如根据XRD图谱,可将品种繁多的微晶石英隐晶质变种玉髓中不同的SiO2质矿物相精确区分;通过黏土矿物成分及其含量可将鸡血石中“地”的种类进行划分.②宝石矿物的晶体结构研究：对成分复杂的单晶宝石进行晶体化学分析、获取矿物类质同象替代情况、利用结晶度划分宝石品质.例如晶格参数中的c/a比值可将绿柱石的Al八面体类质同象替代和Be四面体类质同象替代进行区分;软玉中通过XRD数据计算出的结晶度与软玉的品质关系密切.③宝石学研究技术的开发：对宝石的优化处理过程进行监测,在宝石合成过程中检验矿物晶形大小、结晶质量及内应力等,以有机宝石的晶体结构为基础的人工养殖技术研究.例如尖晶石在热处理过程中,Mg离子由四面体中的T位迁移至八面体中的M位,导致M-O和T-O键长随温度变化,并反映在尖晶石的色调中;在托帕石合成过程中,XRD数据显示770～800℃时形成含氟托帕石（与天然托帕石结构相同）,而在950℃和1000℃出现含氟托帕石离解成刚玉和莫来石.目前,我国在宝石学的XRD应用方面起步较晚,国外在宝石鉴定、优化与合成方面的应用相对成熟.本文认为,该技术与扫描电镜、质子探针等分析技术的联用仍有很大发展空间.

X射线衍射技术在矿物类中药鉴定中的研究进展

矿物类中药在中药鉴定研究中是较为薄弱的类型,传统的性状鉴别方法难以满足矿物类中药鉴别的需要,因此,需要用有效的现代技术手段对矿物药进行系统的鉴别研究。本文对X射线衍射技术在矿物类中药鉴定中的应用进行了综述,并对该技术在矿物类中药中的应用前景进行了展望。

X射线双晶衍射技术的发展及应用

简要介绍了X射线双晶衍射技术的原理 ;描述了双晶衍射技术的发展与演化 .

应用矿物磁测技术和X射线衍射研究氧化土中的磁性矿物

应用矿物磁测、X射线衍射和化学分析对氧化土的磁性矿物进行了研究。结果表明矿物磁测及磁分离技术与X射线衍射结合是鉴别土壤中磁性矿物的类型及其晶粒特征的有效方法．证明氧化土中的主要氧化铁矿物是赤铁矿和磁赤铁矿，针铁矿次之，磁铁矿偶见，其磁赤铁矿的含量可达1．62％～1．92％。土壤中磁性矿物的晶粒特征多以超顺磁性和稳定单畴态存在，认为破性矿物的成因是通过缓慢的成土化学作用产生的。

利用掠入射X射线技术表征高分子薄膜

掠入射X射线技术是一种表征高分子薄膜的结晶性、厚度、界面粗糙度等物理量的新方法,本文简单介绍了这种技术中X射线反射率法和掠入射X射线衍射法的基本原理、测试和分析方法以及这些方法在高分子薄膜研究中的应用。

使用X射线衍射技术区分鉴定银行单据纸

探究了X射线衍射技术在法庭科学纸张区分鉴定方面的应用,首先通过平行试验确定了利用X射线衍射技术区分鉴定纸张的系列指标,然后使用X射线衍射仪对从全国各地收集的68种不同的中国银行单据纸张进行了测试,通过确定的区分鉴定指标对纸张进行了分类。结果表明:使用X射线衍射仪区分鉴定纸张的指标主要有衍射图谱、晶面间距和衍射峰相对强度等,根据这些指标成功地将试验的68种不同银行单据纸张分为了9类,实现了对纸张的快速无损鉴定。

宏观内应力掠入射衍射分析中X射线折射作用引入的误差

宏观内应力X射线掠入射衍射分析中,X射线折射作用引入的衍射角测定误差必然对分析产生影响。本文基于数值方法计算了Euler角定位及Hauk角定位的X射线掠入射衍射分析中因X射线折射作用引入的衍射角测定误差及其在几种宏观内应力测试方法中引入的应变测定误差。在一定角度范围内采用侧倾法可避免X射线折射作用引入的应变测定误差,而采用侧倾法及固定X射线有效穿透深度的Ψ-Ω法测试时必须对测定结果进行数据修正。

X射线衍射技术在材料分析中的应用

X射线衍射分析技术是一种十分有效的材料分析方法,在众多领域的研究和生产中被广泛应用。介绍了X射线衍射的基本原理,从物相鉴定、点阵参数测定、微观应力测定等几方面概述了X射线衍射技术在材料分析中的应用进展。

PAN基原丝预氧丝炭纤维微结构的几种新的X射线衍射散射定量表征技术

介绍几种新近开发的针对PAN基原丝、预氧丝和炭丝微结构和结构缺陷的X射线衍射与散射定量表征技术,它们是:纤维材料中柱状(椭球状)纳米取向微孔体积分数X射线小角散射定量表征方法;纤维材料中柱状(椭球状)纳米取向微孔取向角的小角散射定量表征方法;预氧丝中链状相与环化相体积分数的小角衍射定量表征方法以及炭纤维中乱层石墨相与单层石墨相的X射线广角衍射定量表征方法等。

溶液结构的X射线衍射研究──1实验技术

本文介绍了Ｘ射线衍射法测定液体结构的一些实验技术，包括光源波长和稳定性、单色Ｘ射线的获得、测量条件的选择、实验数据的校正等。

X射线Bragg-Fresnel元件中衍射图形制作技术研究

本文研究Ｘ射线Ｂｒａｇｇ－Ｆｒｅｓｎｅｌ元件中衍射图形的制作技术。介绍了衍射图形制作技术方案的确定，金属吸收层厚度的计算，制作技术工艺流程及衍射图形测试结果。

X射线衍射分析技术课程的实验教学研究

对X射线衍射分析技术课程的实验教学内容及所开设的实验进行了研究与探讨,通过衍射分析系列实验,使学生了解X射线衍射分析技术的应用范围,掌握其基本的表达方式与分析方法,学会正确分析基本的XRD衍射图谱,获得准确的材料结构信息,为学生今后从事材料研究与开发打下坚实的基础。