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分步重复投影光刻机同轴对准系统
被引量:
8
1
作者
郭京平
《光电工程》
CAS
CSCD
1998年第3期1-6,共6页
对投影光刻机同轴对准系统进行了理论分析,阐述了系统的成象机理和工作过程,并在整机上检测了同轴对准系统的重复精度。该系统在掩模和硅片上均刻有对准光栅标记,经光栅衍射后形成干涉信号,使对准信噪比大大提高,并实现了掩模和硅...
对投影光刻机同轴对准系统进行了理论分析,阐述了系统的成象机理和工作过程,并在整机上检测了同轴对准系统的重复精度。该系统在掩模和硅片上均刻有对准光栅标记,经光栅衍射后形成干涉信号,使对准信噪比大大提高,并实现了掩模和硅片之间的直接对准,同时利用光弹性调制器组件对光学信号进行了光学调制,由电路实施解调,提供了一种保持高信噪比,又使弱信号探测不降低精度的对准方案。该系统可适用于各种硅片衬底,工艺适应能力强,稳定性能好,重复对准精度可达±0.1μm(3σ)。
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关键词
分步重复光刻机
掩模对准系统
对准
精度
光刻
下载PDF
职称材料
掩模一样片对准台
2
作者
郭春玲
胡松
魏相惠
《光电工程》
CAS
CSCD
1999年第S1期87-90,共4页
介绍一种用于接近式曝光机的掩摸一样片对准机构,讨论了系统组成及结构设计,对主要部分作了精度分析,并给出了系统各部分的主要技术指标。
关键词
接近式光刻机
掩模对准系统
结构设计
精度分析
下载PDF
职称材料
题名
分步重复投影光刻机同轴对准系统
被引量:
8
1
作者
郭京平
机构
中国科学院光电技术研究所
出处
《光电工程》
CAS
CSCD
1998年第3期1-6,共6页
基金
国家"八五"科技攻关项目
文摘
对投影光刻机同轴对准系统进行了理论分析,阐述了系统的成象机理和工作过程,并在整机上检测了同轴对准系统的重复精度。该系统在掩模和硅片上均刻有对准光栅标记,经光栅衍射后形成干涉信号,使对准信噪比大大提高,并实现了掩模和硅片之间的直接对准,同时利用光弹性调制器组件对光学信号进行了光学调制,由电路实施解调,提供了一种保持高信噪比,又使弱信号探测不降低精度的对准方案。该系统可适用于各种硅片衬底,工艺适应能力强,稳定性能好,重复对准精度可达±0.1μm(3σ)。
关键词
分步重复光刻机
掩模对准系统
对准
精度
光刻
Keywords
Stepandrepeat photoetching machines,Mask aligners,Alignment accuracy.Classification number TN305
分类号
TN305.7 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
掩模一样片对准台
2
作者
郭春玲
胡松
魏相惠
机构
中国科学院光电技术研究所
出处
《光电工程》
CAS
CSCD
1999年第S1期87-90,共4页
文摘
介绍一种用于接近式曝光机的掩摸一样片对准机构,讨论了系统组成及结构设计,对主要部分作了精度分析,并给出了系统各部分的主要技术指标。
关键词
接近式光刻机
掩模对准系统
结构设计
精度分析
Keywords
Proximity stepper, Mask aligner, Structural design, Accuracy analysis.
分类号
TN305 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
分步重复投影光刻机同轴对准系统
郭京平
《光电工程》
CAS
CSCD
1998
8
下载PDF
职称材料
2
掩模一样片对准台
郭春玲
胡松
魏相惠
《光电工程》
CAS
CSCD
1999
0
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职称材料
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