Super-RENS超分辨光存储实验研究

实验在基于传统相变光盘(CD R/W)的测试系统上进行。在一定的写入功率和脉宽条件下对su per RENS样片进行静态记录,并和传统CD R/W作对比实验,用扫描电镜(SEM)观察两种盘结构上的记录点,从微观形貌、尺寸参数等方面进行深入研究比较。实验结果表明,使用相同的记录系统和在完全相同的写入条件下,super RENS上的记录符小于CD R/W上的记录符,尺寸减小可达40%。