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重掺多晶氧化法LDD-CMOS高性能电路的优化设计与研制
1
作者
徐大林
李荫波
+1 位作者
王方
黄敞
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
1990年第2期145-153,共9页
对重掺多晶氧化法(HDPO)应用于LDD IC中的工艺条件进行了优化,并实现了HDPO-LDD电路.研究了HDPO-LDD器件的性能和热载流子效应,同时对器件进行计算机模拟,对HDPO-LDD进行优化设计,获得了优化参数.综合优化设计的工艺条件和参数,成功地...
对重掺多晶氧化法(HDPO)应用于LDD IC中的工艺条件进行了优化,并实现了HDPO-LDD电路.研究了HDPO-LDD器件的性能和热载流子效应,同时对器件进行计算机模拟,对HDPO-LDD进行优化设计,获得了优化参数.综合优化设计的工艺条件和参数,成功地应用于亚微米NMOSFET,1μm沟道长的CMOS CD4007电路,2μm沟道长的CMOS 21级环振和2.5μm沟道长的LSI CMOS IC,性能优良,高速,稳定,可靠.
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关键词
LDD-CMOS
电路设计
掺多晶氧化法
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职称材料
题名
重掺多晶氧化法LDD-CMOS高性能电路的优化设计与研制
1
作者
徐大林
李荫波
王方
黄敞
机构
陕西微电子学研究所
出处
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
1990年第2期145-153,共9页
文摘
对重掺多晶氧化法(HDPO)应用于LDD IC中的工艺条件进行了优化,并实现了HDPO-LDD电路.研究了HDPO-LDD器件的性能和热载流子效应,同时对器件进行计算机模拟,对HDPO-LDD进行优化设计,获得了优化参数.综合优化设计的工艺条件和参数,成功地应用于亚微米NMOSFET,1μm沟道长的CMOS CD4007电路,2μm沟道长的CMOS 21级环振和2.5μm沟道长的LSI CMOS IC,性能优良,高速,稳定,可靠.
关键词
LDD-CMOS
电路设计
掺多晶氧化法
分类号
TN470.53 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
重掺多晶氧化法LDD-CMOS高性能电路的优化设计与研制
徐大林
李荫波
王方
黄敞
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
1990
0
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职称材料
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