Cr：LiCaAlF_6晶体的缺陷研究

本文报道了用化学腐蚀、光学显微镜、扫描电子显微镜、Ｘ射线能谱分析等方法观测布里奇曼法生长的Ｃｒ：ＬｉＣａＡｌＦ＿６（简称Ｃｒ：ＬｉＣＡＦ）晶体中的缺陷。分析讨论了晶体中缺陷的形成原因和减少缺陷的措施。