在体骨髓原位造血细胞间纳米通道的扫描电子显微镜(SEM)证据(英文)

目的 探讨在体骨髓细胞之间是否存在细胞间纳米通道（intercellular nanotubes）。方法 利用扫描电子显微镜（scanning electron microscope,SEM）在体原位观察C57BL/6小鼠骨髓中细胞间纳米通道的分布、形态以及可能的形成机制。结果 骨髓造血细胞之间存在纳米通道结构。SEM显示该结构在骨髓组织中散在分布,位于骨髓内血窦内、外侧。骨髓造血细胞间纳米通道的管径粗细不均,平均长度为5.85μm（1.58~18.54μm）,平均直径为364nm（202~541nm）,还可见一些小颗粒状物质黏附在纳米通道表面。此外,小鼠骨髓造血细胞可能通过伸出突起的形式形成细胞间纳米通道。结论 本研究首次为小鼠骨髓造血细胞之间存在细胞间纳米通道提供了形态学证据。

扫描电子显微镜原位观察可食用淀粉颗粒的超微形貌

通过扫描电子显微镜,对25种可食用淀粉颗粒的超微形貌进行原位观察,与经典工艺提纯的淀粉颗粒形貌对比,发现经典淀粉提纯工艺对淀粉颗粒的超微形貌几乎没有影响。另外,根据对各淀粉的生长环境的观察,发现生长空间对成熟谷物(小麦除外)淀粉颗粒形貌形成过程中有较大影响,而对豆类和根茎类食品原料没有影响。

扫描电子显微镜在材料测试与表征课程中的应用探索

为了提升高校分析测试技术课程的教学效果,充分发挥SEM在教学中的作用,探索了一个新的教学模式。在理论教学开始前,先进行SEM演示教学实验,让学生直观地面向SEM的运行过程以期激发学生的求知欲;在SEM理论教学的过程中,针对诸如照明系统、像差原理等教学重点和难点,让学生先从SEM图像上识别相关现象再从理论上进行讲授,起到了事半功倍的教学效果。SEM实验教学分为演示实验、操作实验和综合实验3个层次,而以后两者为实验教学的重点。采取上机操作、实验报告和口试等灵活多样的课程考核方式,达到了预期的教学目标。

常规扫描电子显微镜的特点和发展

介绍了常规扫描电子显微镜（SEM）的工作原理、缺陷及采取的改进措施。由此发展起来的环境扫描电子显微镜（FSEM）的性能已大幅度提高，其使用范围和领域大为扩展。

S—570扫描电子显微镜维修数例

本文以实例介绍S—570扫描电镜数例故障现象及排除的方法。[例一]一、故障现象:电镜在工作过程中,突然高压掉下,高压关闭,真空指示回转,真空绿色指示灯熄灭。二、检测:1.真空系统F_3熔断;2.冷测EVAC电源板,Q_6ec击穿,Q_1Q_2ec短路,焊下Q_1Q_2测量未坏,复位,发现散热板与be脚短路,因散热板有方位性,其中一散热板方位反了,窄空位朝be脚,使之碰触短路,这种反位是原机装板时所误;3.通电检查。A_3灯亮,但24V垮到8V左右,DP未工作,A_3电磁阀烧坏。三、故障排除:1.将散热板方位校正。Q_1Q_2短路排除;2.自制A_3线圈换上,工作恢复正常。

国外环境扫描电子显微镜（ESEM）技术发展与应用

本文介绍了国外扫描电子显微镜技术发展状况、所采用的手段及适用范围。

S－450扫描电子显微镜故障两例

Ｓ－４５０扫描电子显微镜故障两例黄冬英（中国医科大学电镜中心实验室，沈阳１１０００１）例一、真空系统故障是电镜工作者常遇到的。在正常情况下，开机后２０分钟即可达到真空度预定指标。本故障现象是：扩散泵开始工作后，经过数小时仍达不到高真空，至使仪器无法工...

扫描电子显微镜在PS版铝板基砂目形貌观察中的应用

用扫描电子显微镜(SEM)对PS版铝板基上的砂目形貌进行了观察分析,比较了不同砂目形貌对PS版性能的影响。实践证明,SEM可以方便直观地观察铝板基上砂目的细密程度、平台和深度,为砂目的处理提供客观可靠的依据。

扫描电子显微镜在陶瓷微观研究中的应用

一、概况扫描电子显微镜(以下简称扫描电镜,常用英文字母SEM表示)在陶瓷行业使用比冶金、半导体行业要晚几年,六十年代中期一些重要的陶瓷刊物才出现SEM拍摄的图片。但在70年代有了发展。据不完全统计,以美国和英国的陶瓷协会志上发表的显微图片总量(包括偏光、电子显微镜及扫描电镜的总和)为100。

电子显微镜在农业上的应用及进展

随着现代生物技术研究方法的深入,电子显微镜技术在农业上的应用也将进一步发展。就扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)在农业领域的应用及其发展进行了综述,以期为进行这方面研究提供资料。

扫描电子显微镜

右边的画面真令人惊奇：一只小昆虫在放大1万倍之后，看上去就像科幻片里巨大的外星人，张矛舞爪地仿佛要吞噬整个世界。能看到这一壮观的景象，要归功于扫描式电子显微镜。

药用矿物蒙脱石的电子显微镜分析

目的了解药用矿物蒙脱石的微观精细结构,为矿物蒙脱石的分析鉴定和药用价值研究提供理论依据 方法应用扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)观测技术,对药用矿物蒙脱石样品进行观察分析。结果得到了药用矿物蒙脱石样品的扫描电镜和透射电镜直观照片。结论 该实验样品具有层纹状结构。

聚焦离子束制备透射电子显微镜样品的两种厚度判断方法

透射电镜样品的厚度是透射电镜(TEM)表征中一个重要参数,快速准确地判断样品厚度是制备高质量样品的前提。本文通过使用聚焦离子束(FIB)制备了带有厚度梯度的透射电镜样品(Si、Sr Ti O3和La Al O3),并提出两种制样过程中快速判断厚度的方法。第一种通过扫描电子显微镜(SEM)的衬度变化经验地判断样品的厚度;第二种是用FIB在样品边缘切一个斜边,通过SEM测量斜边侧面的宽度用几何方法推断样品的厚度。这两种方法都通过会聚束电子衍射(CBED)和电子能量损失谱(EELS)测量的厚度作为检验标准。对比认为,样品较薄时用SEM衬度测厚比较合适;样品比较厚时用几何方法测量比较直接。

电子显微镜研究分子筛的新进展

电子显微镜在沸石分子筛的研究中起着重要的作用。阐述了透射电子显微镜(TEM)和扫描电子显微镜(SEM)技术研究沸石分子筛的原理,描述了使用不同种类的电子显微镜剖析沸石分子筛的形态、尺寸、粒径分布等,并介绍了近年来电镜技术对沸石分子筛,特别是对新型功能介孔材料及手性介孔材料的研究进展。电子显微镜的发展将推动分子筛及纳米材料在选择性催化/吸附过程中的应用。

新型电子显微镜

日本电子公司推出电子显微镜（SEM）新产品——复合光束加工观测装置“JIB-4500”。该产品具有获取并分析表面和内部三维图像的能力，除聚焦离子束（FIB）加工和SEM观测功能外，还可利用能量分散型X射线分析装置（EDS）和电子背散射衍射（EBSD）系统进行分析。

一种扫描电镜二次电子探测器闪烁体的制备方法

扫描电镜(SEM)中的二次电子探测器闪烁体是决定SEM图像质量的关键部件。目前广泛使用P47荧光粉制作SEM闪烁体,由于制作工艺麻烦,保存性能较差,而且闪烁体的发光效率受荧光粉粉层沉积厚度的直接影响,实验室制作较为困难。ST—401塑料闪烁体是在塑料中加入短余辉(5μS)荧光粉。

SEM电子光学光路自动设计初探

SEM电子光学系统的自动设计需要在未知磁透镜系统中追踪实际电子轨迹,根据象评介方法进行平衡和修正,最终输出各个设计参量。由于计算量巨大,目前还无法实现。但它又是电镜设计者所迫切需要的,因为它能使系统设计达到最优状态,并可提高设计效率。为了调和矛盾,我们设想将自动设计分为磁透镜的CAD和电子光学光路的自动设计。在光路自动设计时不再对磁透镜进行优选。同时由于SEM实际电子轨迹能较好地满足傍轴要求,故可采用几何电子光学和三级象差理论计算,使问题大为简化。我们看到,光路自动设计一开始就陷入矛盾,因为象差系数和光路设置互为前提,而这一循环过程是否收敛直接关系到自动设计的成败。本文除了给出各子程序的计算方法外,还着重分析系统的误差状况。

光子计数技术用于SEM二次电子信号检测的理论探讨

本文重点在分析比较PMT视频放大系统与PMT光子计数系统的噪声源,信噪比及探测灵敏度的基础上,就光子计数技术在扫描电镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)二次电子信号检测中的可能应用进行了初步的理论探讨。分析表明,SEM采用光子计数技术后,信号探测灵敏度可提高一个量级以上,从而在相同的电子枪发射亮度与既定的电子光学系统下,可获得更高的图象分辩率与清晰度。

半导体制造中的电子显微分析

集成电路的特征尺寸越来越小,电子显微分析在微电子制造中成为不可缺少、不可替代的重要分析手段。本文根据扫描电子显微镜(SEM)及透射电子显微镜(TEM)在实际分析中的特长与局限,主要就仪器分辨率与结果的精确度的问题,讨论如何将两种分析技术有机地结合起来,扬长避短,取得最佳效果。

高效MCP二次电子接收器在SEM中的应用

本文详细描述了ＭＣＰ在ＳＥＭ 中的应用，论述了具体接收器的结构和放大系统的结构性能，给出一系列实验参数及图像的对比结果，证明了ＭＣＰ接收器完全可以在ＳＥＭ 中高效可靠地替代原有的接收器。