基于IIST与SVM的串联故障电弧诊断方法研究

针对S变换的时频分辨能力不足导致串联故障电弧特征难以准确提取的弊端,以中心频率测度为标准筛选低频和高频段的主要频率点,分别引入低频和高频段对应的高斯窗口系数,形成一种改进的不完全S变换(im-provement incomplete S-transform,IIST)时频分析方法。首先,依据标准搭建串联电弧故障试验采集平台,采集不同负载情况下的电流信号;其次,采用IIST对信号进行时频分析并提取低频和高频段的对应特征量,形成特征向量样本集;最后,在此基础上构建故障电弧诊断模型,对样本集进行分类识别。结果表明,该特征提取方法在支持向量机(support vector machine,SVM)中识别准确率达到98.29%,能有效地提取电流故障特征,通过增设对照实验,探究不同特征提取方法、不同核函数的SVM对诊断结果的影响,进一步验证了IIST与SVM故障诊断方法是有效的。