通过改进的制备工艺提高FINEMET纳米晶磁粉芯的磁性能及其机理

通过对比实验研究了改进的制备工艺下FINEMET纳米晶磁粉芯的磁性能,并探讨了其相应的物理机制。采用扫描电镜、透射电镜和X射线衍射仪检测磁粉的表面形貌、内部结构和晶格畸变,采用B-H分析仪检测磁粉芯的动态磁性能。结果表明,改进的制备工艺能够有效降低磁粉芯的损耗,提高磁导率和频率应用范围。延长非晶粉末的球磨时间能够降低磁粉芯的磁滞损耗和涡流损耗,最佳的球磨时间为8h。通过对比磁粉的晶格畸变,发现通过改进工艺制备的磁粉的晶格畸变相对较小,该工艺提高磁性能的原因在于磁粉残余内应力的有效释放。