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存储器测试图形算法概述
被引量:
3
1
作者
罗晶
杨士宁
石雪梅
《计算机与数字工程》
2017年第4期740-744,共5页
存储器的高集成度化、高速化,为存储器测试带来了极大挑战。论文介绍了存储器测试图形的原理和发展,基于传统的存储器测试图形,综合描述了目前国内外几种较为新颖的且可用于实际工业生产的存储器测试图形改进算法。
关键词
存储器测试
测试图形
改进的齐步算法
下载PDF
职称材料
题名
存储器测试图形算法概述
被引量:
3
1
作者
罗晶
杨士宁
石雪梅
机构
航天科工防御技术研究试验中心
出处
《计算机与数字工程》
2017年第4期740-744,共5页
文摘
存储器的高集成度化、高速化,为存储器测试带来了极大挑战。论文介绍了存储器测试图形的原理和发展,基于传统的存储器测试图形,综合描述了目前国内外几种较为新颖的且可用于实际工业生产的存储器测试图形改进算法。
关键词
存储器测试
测试图形
改进的齐步算法
Keywords
memory test
test pattern
improved march pattern algorithm
分类号
TP391 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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作者
出处
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1
存储器测试图形算法概述
罗晶
杨士宁
石雪梅
《计算机与数字工程》
2017
3
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