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易测试PLA的一种新设计及其测试方法 被引量：1
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作者 张微 叶志镇 《浙江大学学报（自然科学版）》 CSCD 1996年第6期729-735,共7页
本文提出了一种易测试ＰＬＡ的新设计，这种设计使ＰＬＡ易于测试，所增加的硬件只是一个ｍ位移位寄存器．本文还详述了对这种ＰＬＡ进行测试的方法，该测试方法只需要很少的测试向量，测试结果计算简单，具有很高的故障复盖率．
关键词 可编逻辑阵列 PLA 测试向量 故障复盖率
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