模拟电路中非零交叉情况下故障最小范围的确定方法

为确定模拟电路非零交叉情况下故障元件存在范围,提出了一种K故障下诊断的新方法。它是一种确定故障元件存在的最小范围的方法,即在十分现实的K故障下,确定能代表电路所有元件并给出在K故障假设下的最优可测试元件组,使故障定位工作只局限于该组元件。通过可测试值计算和规范式不确定性组与最优可测试成分组的确定,可以诊断故障元件的范围。