提高边界扫描电路延迟故障被测度的有效技术

本文提出了一种用于边界扫描易测试设计电路中锁存器排序算法,并借助于ATPG自动测试矢量生成工具生成通路延迟故障测试集。其算法已用C语言在工作站上实现,故障模拟结果表明,排序算法明显地改善了延迟测试质量。

加权伪随机矢量易测试的可编程逻辑阵列

提出了一种实用的随机矢量易测试方案,用循环移位寄位器对乘积线进行划分,同时修改原有的输入译码器来减少乘积线和输出线的扇入数。通过对20个不同规模的可编程逻辑阵列实验,结果表明以很低的附加硬件电路获得了很高的故障被测度和较短的测试输入序列。