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嵌入式SRAM测试算法及其诊断实现
被引量:
6
1
作者
陈则王
苏建华
王友仁
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2010年第5期865-870,共6页
为有效定位和识别嵌入式静态随机访问存储器(SRAM)中的各种故障,改进SRAM的设计和生产流程,提出一种有效的March19N(N表示存储器的深度)测试算法.把故障注入64×8位的SRAM;再将测试算法的读/写操作转化为控制器的控制状态,并设计带...
为有效定位和识别嵌入式静态随机访问存储器(SRAM)中的各种故障,改进SRAM的设计和生产流程,提出一种有效的March19N(N表示存储器的深度)测试算法.把故障注入64×8位的SRAM;再将测试算法的读/写操作转化为控制器的控制状态,并设计带诊断支持功能的内建自测试(BIST)模块;最后用该BIST模块测试注入的故障,并对测试数据进行比较与合成,从而实现故障的测试和定位.通过对仿真实验结果的分析,得出了包括固定型故障、开路故障、跳变故障、跳变耦合故障、幂等耦合故障、状态耦合故障和地址译码故障在内的故障字典表;并由此得出各类故障所具有的不同的故障识别标志,表明文中算法具有较高的故障分辨率.
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关键词
SRAM
BIST
故障
字典表
故障识别标志
故障
分辨率
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职称材料
题名
嵌入式SRAM测试算法及其诊断实现
被引量:
6
1
作者
陈则王
苏建华
王友仁
机构
南京航空航天大学自动化学院
出处
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2010年第5期865-870,共6页
基金
国家自然科学基金(90505013
60871009)
文摘
为有效定位和识别嵌入式静态随机访问存储器(SRAM)中的各种故障,改进SRAM的设计和生产流程,提出一种有效的March19N(N表示存储器的深度)测试算法.把故障注入64×8位的SRAM;再将测试算法的读/写操作转化为控制器的控制状态,并设计带诊断支持功能的内建自测试(BIST)模块;最后用该BIST模块测试注入的故障,并对测试数据进行比较与合成,从而实现故障的测试和定位.通过对仿真实验结果的分析,得出了包括固定型故障、开路故障、跳变故障、跳变耦合故障、幂等耦合故障、状态耦合故障和地址译码故障在内的故障字典表;并由此得出各类故障所具有的不同的故障识别标志,表明文中算法具有较高的故障分辨率.
关键词
SRAM
BIST
故障
字典表
故障识别标志
故障
分辨率
Keywords
SRAM
BIST
fault dictionary
fault signature
diagnostic ratio
分类号
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
嵌入式SRAM测试算法及其诊断实现
陈则王
苏建华
王友仁
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2010
6
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职称材料
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