单频散斑光栅膜研测面内位移场

本文报道了利用作者研制的一种新的光学元件——单频散斑光栅膜进行面内位移场测量的方法及原理。

连续频率散斑光栅膜测量技术的研究

提出了一种新的连续频率散斑光栅膜测量技术，给出了该技术的理论和方法。它可用于研究很大范围内的变形，其灵敏度可从０～６００ｌ／ｍｍ范围内连续选取，或更高。