基于CMOS的X射线数字(DR)成像技术

基于CMOS的X射线数字(DR)成像技术是上海交通大学安全检测实验室历时多年开发成功的项目,是国内第一台完全自主开发、具有完全自主知识产权的高科技产品。该产品基于开放式CMOS芯片,集数据采集模块、相机模块、爬行机构模块与图像处理与用户终端控制模块于一体,为后续产品的使用、维护、保养提供了更便捷的可控空间。