亚微米数显光栅测长仪及其示值误差的测定

本文对亚微米数显光栅测长仪作了简介，论述了误差的组成，讨论了示值误差的两种评定方法，并简述了示值误差的检测。

光栅数显系统的设计与实现

本文通过对上海亮兴电子技术有限公司产品JC1 0 0 - 1型数显测长仪的剖析 ,介绍一种用AT89C2 0 51作为主控芯片采集光栅信号 ,实现微米级精密长度测量数显系统的设计方法。

测长仪校准规范使用中要注意的一个问题

针对数字显示类测量仪器在测量中可能存在的缺陷,从其所使用的光栅传感器特性分析,对其细分误差带来的测量结果差异进行研究;为测长仪校准规范如何保证数显测长仪量值准确,给出具体评价方法,并就数显测长仪在使用和校准时出现的问题进行了分析和讨论,给出了解决办法。

光滑量规直径测量不确定度评定

一、概述1．校准方法依据JJG343—1996（（光滑极限量》检定规程校准。2．环境条件温度为（20±1）℃。3．校准标准（0～100）mm、MPE≤0．5μm的测长机。4．校准对象≤Φ100mm的IT6级以下光滑量规。5．校准过程光滑量规直径是在数显测长仪上直接测得的。测量前要先调整好窄平面测帽，保证固定测头与活动测头的测量面平行。然后将测长仪的示值清零，