一种数模混合芯片高效量产测试技术研究

以提高数模混合芯片量产测试效率为目的,基于数模混合芯片的测试参数和功能进行分析,对现有的量产测试方案进行技术优化和提升。对数字参数和模拟参数同时测试的技术方案进行优化,分别针对数字模块、模拟模块设计硬件,开发测试程序,数字模块测试SITE数提高至20 SITES同测。针对模拟模块的个性化熔丝修调方案进行优化,通过设计通用的熔丝修调阵列装置,避免重复设计熔丝修调板卡,缩短电路板(PCB)设计、制造时间。针对集成电路的测试数据进行分析,提出基于应用程序可视化基础(VBA)结合公式计算的集成电路数据筛选方法,提高集成电路测试质量。通过上述技术方案优化,数模混合芯片的量产测试效率提升了50%以上。

高速折叠内插ADC数模混合电路信号增强系统

传统的电路信号增强系统中在数模转换中,转换精度较低,导致传输信号质量较低。针对上述问题,设计高速折叠内插ADC数模混合电路信号增强系统。在进行系统设计时,首先进行系统硬件设计,以确保系统的稳定性和高效性。接着进行系统软件设计,进行ADC参数测试,以确保模拟信号能够被正确地转换为数字信号。建立数模混合测试通道,以验证数字信号和模拟信号之间的传输和转换是否顺畅。优化数模转换器算法,以提高转换精度。通过增强电路信号来确保信号的稳定性。最后,系统测试证明该信号增强系统传输信号质量较高,能够稳定输出。

VXI数模混合信号集成电路测试系统

数模混合集成电路测试系统是当前我国的主流测试系统 ,本文以信息产业部电子信息产业发展基金重点招议标项目 (VXI数模混合集成电路测试系统研究开发及产业化 )为例进行了介绍。论述基于VXI总线的高速、高密度、多通道、低功耗新型ATEIC测试系统 ,介绍了系统的软硬件设计。详细论述了全面提高系统开放性、标准化的设计思想。

数模混合信号集成电路测试系统的同步策略

介绍了数字同步的触发类型,给出了标准总线和非标准总线条件下的同步触发方案.对数模混合信号集成电路测试系统的同步、测量仪器内部时钟周期与数字周期的同步、采样频率与输入信号频率的同步进行了分析,并给出了相关参数的约束关系.提出了解决数模混合信号集成电路测试系统同步问题的有效方案,使数模混合信号集成电路测试系统准确、稳定和可靠.

一种提高数模混合信号测试精度的算法

文中论述了一种提高数模混合信号测试(基于DSP信号处理)精度的算法(以下称旋转数据算法),旋转数据算法是针对数模混合信号测试中异步采样的不连续性导致的频谱泄漏问题,而提出的消除频谱泄漏的算法。旋转数据算法的主要思想是:把数模混合电路的测试信号等效地看成由一个旋转向量在X轴上投影产生,当采样不连续时,采样数据经FFT变换后会产生频谱泄漏。通过适当地旋转向量,使不连续的采样连续,再利用这个向量旋转相位去修正采样数据,这样就解决了频谱泄漏问题。文中用VB程序实现了此算法,并讨论了在数模混合信号动态测试(SFDR、SNR、THD)中的应用。

使用Multi-Sector技术提高混合信号芯片的并行测试效率

测试系统的设计面临着越来越多的挑战。工厂产量的需求多种多样，芯片的测试要求也越来越复杂，如今测试工程师需要的是简单易学并且使用效率高的测试机。根据测试的产品不同，测试生产线成本的管理和策略也不一样。有大批量产品的工厂通常是通过最大化测试位数量来提高效率。然而，批量小、产品种类多的工厂发现提高测试位数量未必最好。

消费类电子芯片的混合信号测试解决方案

随着经济社会的发展,人们对消费类电子的多媒体功能要求越来越高,具有混合信号功能的芯片正越来越多地出现在人们的生活中。通讯领域中的MODEM、CODEC和飞速发展的手机基带芯片、视频处理器领域的MPEG、DVD芯片,以及各种图象处理器、网络转换器和磁盘驱动器芯片,都属于这一类。针对这一类芯片的测试,我们称之为混合信号测试。本文主要讨论这类芯片的测试特点,及针对这些测试特点Advantest的新一代测试平台T2000 LSMF解决方案。

无线通信和消费电子融合系统芯片(SoC)对混合信号测试的意义

在经过多年的讨论之后,消费电子中最大的趋势之一-融合,最终得到了业内人士的一致认可。许多不同的消费电子应用正在提供语音、音频、视频和数据融合服务,如2.5G/3G 手机、顶级机顶盒和下一代家庭网关应用。

车载芯片的测试挑战——基于高性能混合信号测试系统的解决方案

随着近年汽车电子化进程的快速发展,对于核心车载芯片的多功能、高性能、低成本、高安全性的要求就变得越来越强烈。本文就使用高级混合信号测试系统来实现车载芯片的低成本和高可靠性的测试进行说明。

混合信号边界扫描测试系统的设计与实现

分析了混合信号边界扫描测试的工作机制对测试系统的功能需求,实现了符合IEEE1149.4标准的混合信号边界扫描测试系统。仿真和测试实践表明,该测试系统具有对系统级、PCB级和芯片级电路进行简单互连测试、差分测试和参数测试等功能,结构简单、携带方便、工作可靠。

混合信号总线测试方法及应用研究

简要介绍了混合信号测试总线IEEE1149 4标准和KLIC混合信号总线测试用的实验芯片。使用本研究室开发的混合信号边界扫描测试系统对KLIC实验芯片进行了简单互连、扩展互连测试和CLUSTER测试等。测试结果表明,IEEE1149 4测试总线在这些测试中是非常成功的,并同时指出了其局限性。

HFC网络数模混合DWDM传输应用测试

双向有线电视HFC网络上有两种调制信号，即全网用户共用的广播电视模拟信号和数字电视信号、CMTS信号、HFC网管信号等数字信号。模拟电视信号在总前端，经1550nm ITU波长光发射机调制成标准rrU波长光信号后，传输到分前端。在分前端机房把数字下行射频信号混合后经1550nm ITU波长光发射机调制成标准ITU波长的光信号，与模拟电视信号进行DWDM合波，覆盖本地区域内的电视及数据用户。

基于Quartet测试系统的高速DAC芯片测试

介绍了通用DAC芯片的主要测量参数及其测试方法。并以12-bit高速DAC芯片ISL5861为例,利用Credence公司的数模混合信号测试系统Quartet实现对高速数模转换芯片进行测试。

手机用TFT-LCD驱动控制芯片的测试电路结构设计

文章从分析手机用TFT-LCD驱动控制芯片的测试需求和芯片结构出发,提出了一种针对该芯片的测试电路结构设计方案。该方案采用多条扫描链对芯片内的多个异构的模块进行隔离,保证了各个模块有较高的测试独立性。考虑到内置SRAM的特殊性,采用边界扫描方式进行测试,提高了测试的灵活性,减少了测试电路的面积。电平敏化扫描链的引入,大大提高了SourceDriver测试的可控制性。该方案支持手机用TFT-LCD驱动控制芯片的常规以及特殊项目的测试。

无线内窥镜专用芯片的FPGA验证及相关测试

介绍了一种数字式无线内窥镜的系统方案及其胶囊内关键数模混合专用芯片的结构与功能,提出并实现了用于该数模混合专用芯片的FPGA验证系统及验证流程。为了进行芯片系统级低功耗设计,验证系统完成了体内硬件部分的能量测试。

数模混和电路故障诊断测试技术研究

分析了数模混合电路故障诊断测试系统组成结构和各模块主要功能,对整个系统的实现情况进行了分析与论证.找出了对于数模混合的电路故障诊断测试过程中实现难点,重点对模拟信号的预判别和信号的误差修正补偿技术进行了深入的研究.提出了对模拟信号的有效的采集方法和可行分析手段,对信号误差分析了其产生原因,并给出了解决方案.

A/D转换芯片的测试环境构成及测试方法

介绍了通过Labview编程环境,运用系统集成的方法,集成具有GPIB接口的测试设备,实现数字电路测试系统向混合信号测试方向扩展的方法。并阐述了A/D转换芯片的几种主要测试方法:柱形图分析法、离散参数傅立叶变换法、拍频测试法等的基本原理及实现方法。

规划综合性强、性价比高的芯片测试策略

得益于芯片设计方法的不断提高,以及高密度工艺技术,如今生产的数字、模拟模块集成到一块芯片中的系统芯片,其尺寸小巧,功能强大。随之也引发了一个前所未有的挑战——生产商该如何测试这些芯片,且使测试过程高效廉价。正因为将多种功能模块集成到了一块芯片当中,使得传统的测试方法无法应用到系统芯片中去。为了解决系统芯片测试问题,一个更为全面、综合的测试方法产生了,这种方法更好地帮助实现从设计到测试的过渡,加快样片的质量验证,并能提高大批量产品测试的性价比。这种方法的核心是高效的测试开发能力,可以满足复杂测试的产量要求。此测试平台具有能适应复杂的模拟、数字测试性能的仪器。尽管系统芯片日趋复杂,这种方法通过有效地平衡设计与测试资源,向用户提供了更为有效的测试方案,缩短了测试时间。