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用氩谱线的斯达克宽度来表征ICP的电子密度
被引量:
2
1
作者
万家亮
王芳
《地质实验室》
1997年第4期244-248,共5页
以相同条件下测量的△λs(H)486.133nm为基础,得到了用氩谱线的△λs(Ar)与ICP中ne的对应关系。适应于任何进样条件下电子密度的测量,具有广泛的实际应用意义。
关键词
氩谱线
斯达克宽度
ICP
电子密度
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职称材料
题名
用氩谱线的斯达克宽度来表征ICP的电子密度
被引量:
2
1
作者
万家亮
王芳
机构
华中师范大学化学系
出处
《地质实验室》
1997年第4期244-248,共5页
文摘
以相同条件下测量的△λs(H)486.133nm为基础,得到了用氩谱线的△λs(Ar)与ICP中ne的对应关系。适应于任何进样条件下电子密度的测量,具有广泛的实际应用意义。
关键词
氩谱线
斯达克宽度
ICP
电子密度
分类号
O657.3 [理学—分析化学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
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1
用氩谱线的斯达克宽度来表征ICP的电子密度
万家亮
王芳
《地质实验室》
1997
2
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