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实现无残次(Zero Defect)电子装配的关键工艺
1
作者
Jim Hauss
王家发
《世界产品与技术》
2003年第4期79-82,共4页
元件贴装密度越来越高,部件尺寸越来越小,上市时间越来越短,以及对产品一次性合格率的要求越来越大的发展势头,对当今电子装配行业形成了巨大压力。这种发展势头催生出更加复杂,更加严格,同时也需要更精明的资金运作方案的生产工艺。随...
元件贴装密度越来越高,部件尺寸越来越小,上市时间越来越短,以及对产品一次性合格率的要求越来越大的发展势头,对当今电子装配行业形成了巨大压力。这种发展势头催生出更加复杂,更加严格,同时也需要更精明的资金运作方案的生产工艺。随着市场要求不断增长,全力研究无残次装配线的意义已变得越来越重要。但我们从未如此接近可以实现理想。 业界对能实现这种梦想的种种技术的研究始终没停止过。最近问世的一些新一代可视技术,激光技术和多传感器技术正逐渐被业界所推崇。这些技术进步与创新的生产线层面应用软件结合,构成了实现无残次生产线所需的全新全盘攻略的基础。
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关键词
电子装配
无残次品生产线
无残
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生产线
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题名
实现无残次(Zero Defect)电子装配的关键工艺
1
作者
Jim Hauss
王家发
机构
环球仪器公司
环球仪器公司中国/香港区
出处
《世界产品与技术》
2003年第4期79-82,共4页
文摘
元件贴装密度越来越高,部件尺寸越来越小,上市时间越来越短,以及对产品一次性合格率的要求越来越大的发展势头,对当今电子装配行业形成了巨大压力。这种发展势头催生出更加复杂,更加严格,同时也需要更精明的资金运作方案的生产工艺。随着市场要求不断增长,全力研究无残次装配线的意义已变得越来越重要。但我们从未如此接近可以实现理想。 业界对能实现这种梦想的种种技术的研究始终没停止过。最近问世的一些新一代可视技术,激光技术和多传感器技术正逐渐被业界所推崇。这些技术进步与创新的生产线层面应用软件结合,构成了实现无残次生产线所需的全新全盘攻略的基础。
关键词
电子装配
无残次品生产线
无残
次
生产线
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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作者
出处
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1
实现无残次(Zero Defect)电子装配的关键工艺
Jim Hauss
王家发
《世界产品与技术》
2003
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