设计了一种用于高速流水线ADC的多相时钟产生电路。通过采用一种高灵敏度差分时钟输入结构和时钟接收电路,降低了输入时钟的抖动。该多相时钟产生电路已成功应用于一种12位250MSPS流水线ADC,电路采用0.18μm 1P5M 1.8 V CMOS工艺实现,...设计了一种用于高速流水线ADC的多相时钟产生电路。通过采用一种高灵敏度差分时钟输入结构和时钟接收电路,降低了输入时钟的抖动。该多相时钟产生电路已成功应用于一种12位250MSPS流水线ADC,电路采用0.18μm 1P5M 1.8 V CMOS工艺实现,面积为2.5 mm2。测试结果表明,该ADC在全速采样条件下对20 MHz输入信号的信噪比(SNR)为69.92 d B,无杂散动态范围(SFDR)为81.17 d B,积分非线性误差(INL)为-0.4^+0.65 LSB,微分非线性误差(DNL)为-0.2^+0.15 LSB,功耗为320 m W。展开更多
扩频时钟产生器可以分散频率谐波的能量、减小单位带宽内的辐射能量,因此,扩频时钟产生器广泛应用在SATA Ⅲ等系统中。给出了一种基于失调锁相环技术的SATA Ⅲ扩频时钟产生器的设计方法。在扩频时钟产生器中,一个低频扩频信号和一个直...扩频时钟产生器可以分散频率谐波的能量、减小单位带宽内的辐射能量,因此,扩频时钟产生器广泛应用在SATA Ⅲ等系统中。给出了一种基于失调锁相环技术的SATA Ⅲ扩频时钟产生器的设计方法。在扩频时钟产生器中,一个低频扩频信号和一个直接数字频率合成器进行频率合成,然后和一个高频信号混频,产生一个更高的调制参考源。扩频时钟产生器采用1.2 V 0.13μm CMOS工艺,功耗为21.16 m W,主要的频率功率减小了16 d B,芯片面积0.7*0.45 mm2。测试结果表明,采用失调锁相环技术,扩频时钟产生器具有较低的时钟抖动,较小的EMI辐射功率,较好地满足了SATA Ⅲ的需求。展开更多
文摘设计了一种用于高速流水线ADC的多相时钟产生电路。通过采用一种高灵敏度差分时钟输入结构和时钟接收电路,降低了输入时钟的抖动。该多相时钟产生电路已成功应用于一种12位250MSPS流水线ADC,电路采用0.18μm 1P5M 1.8 V CMOS工艺实现,面积为2.5 mm2。测试结果表明,该ADC在全速采样条件下对20 MHz输入信号的信噪比(SNR)为69.92 d B,无杂散动态范围(SFDR)为81.17 d B,积分非线性误差(INL)为-0.4^+0.65 LSB,微分非线性误差(DNL)为-0.2^+0.15 LSB,功耗为320 m W。
文摘扩频时钟产生器可以分散频率谐波的能量、减小单位带宽内的辐射能量,因此,扩频时钟产生器广泛应用在SATA Ⅲ等系统中。给出了一种基于失调锁相环技术的SATA Ⅲ扩频时钟产生器的设计方法。在扩频时钟产生器中,一个低频扩频信号和一个直接数字频率合成器进行频率合成,然后和一个高频信号混频,产生一个更高的调制参考源。扩频时钟产生器采用1.2 V 0.13μm CMOS工艺,功耗为21.16 m W,主要的频率功率减小了16 d B,芯片面积0.7*0.45 mm2。测试结果表明,采用失调锁相环技术,扩频时钟产生器具有较低的时钟抖动,较小的EMI辐射功率,较好地满足了SATA Ⅲ的需求。