支持JTAG协议的芯片测试时钟的解决方案

控制系统时钟激励信号的正确打入是芯片内测试的关键所在。以 JTAG协议为基础，文章介绍了芯片时钟端口的设计方法以及对芯片进行内测试时外部时钟信号的控制方法。最后，文章提出了一种应用于多相时钟芯片的测试规则，满足测试对时序的要求。