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题名低功耗时钟门控电路设计研究
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作者
王子鑫
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机构
格兰菲智能科技有限公司
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出处
《通信电源技术》
2024年第2期19-21,共3页
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文摘
在电子设备的电源管理领域,时钟门控电路在降低电源能耗方面发挥着关键作用,但其本身也会产生一定的能量损耗。文章专注于研究时钟门控电路的低功耗设计。首先,介绍时钟门控技术的概念;其次,提出一种全新的时钟门控电路设计策略,旨在实现更高的能效和性能;最后,通过对比实验验证了设计的有效性。通过优化电源电路的运行,从而提高能效。
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关键词
低功耗
时钟门控电路
电路设计
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Keywords
low power consumption
clock gating circuit
circuit design
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分类号
TN702
[电子电信—电路与系统]
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题名一种高性能低功耗SEU免疫锁存器
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作者
黄正峰
钱栋良
彭小飞
欧阳一鸣
易茂祥
方祥圣
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机构
合肥工业大学电子科学与应用物理学院
合肥工业大学计算机与信息学院
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出处
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2016年第4期524-529,共6页
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基金
国家自然科学基金资助项目(61574052
61274036
+2 种基金
61371025
61474036)
安徽省自然科学基金资助项目(1608085MF149)
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文摘
为了缓解瞬态故障引发的软错误,提出一种对单粒子翻转完全免疫的加固锁存器。该锁存器使用4个输入分离的反相器构成双模互锁结构,使用具有过滤瞬态故障能力的C单元作为输出级,采用快速路径设计和钟控设计以提升速度和降低功耗。Hspice仿真结果表明,该电路结构没有未加固节点,所有节点都具有自恢复能力,适用于门控时钟电路。相比于SIN-LC,Cascode ST,FERST,TMR和SEUI加固等类型的锁存器,该锁存器的延迟、功耗、功耗延迟积平均下降82.72%,25.45%,84.24%。此外,该电路结构受工艺角、供电电压和温度扰动的影响较小。
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关键词
加固锁存器
瞬态故障
单粒子翻转
软错误
门控时钟电路
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Keywords
Hardened latch
Transient fault
Single event upset
Soft error
Clock gating circuit
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分类号
TN47
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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