微电子机械系统中转速测量的光学方法

利用显微测量技术和CCD图像传感器的线性积分成像特性,将数字图像处理技术与时间积分成像技术用于微电子机械系统(MEMS)中的转速测量。只需分别摄取被测物体上的标志点在静止状态下的时间积分图像和运动状态下的时间积分图像,即可测得物体在该段曝光时间内的转速。该方法对实验设备及实验条件要求较宽松。实验表明该方法对微系统中近似匀速转动时转速的测量是完全可行的,且具有较高的精度。

“嫦娥二号”卫星CCD立体相机的关键技术

文章介绍了中国两次绕月探测中CCD立体相机所采用的技术与创新,并与国际同类相机所获取的图像进行了比较;在此基础上详细介绍了"嫦娥二号"(CE-2)卫星CCD立体相机的综合创新集成技术——"单镜头两视角同轨立体成像、时间延迟积分图像传感器(TDICCD)推扫、速高比补偿",并从工程目标与科学目标出发进行探测灵敏度及成像动态范围的需求分析;根据需求分析确定了总体技术方案,包括光、机、电的优化设计以及对月探测中首次采用TDICCD的技术困难与对策;特别讨论了速高比补偿的方案及实施途径,并进行了在轨试验验证。文章最后分别给出了虹湾地区成像分辨率为1.3m以及全月面分辨率为7m的代表性图像,图像清晰、层次丰富,显示出中国在对月立体成像技术上取得了显著进步。

基于FPGA的TDICCD8091驱动时序电路设计

结合时间延时积分图像传感器TDICCD和Altera公司现场可编程门阵列FPGA的器件特点和应用背景,介绍了美国仙童公司的一款高速TDICCD8091的工作特点,在分析其驱动时序信号逻辑关系的基础上,以QuartusⅡ为开发平台采用VHDL硬件描述语言设计并完成时序仿真,经验证该驱动时序下载到硬件电路中能够成功驱动TDICCD8091正常工作。

TDI CMOS图像传感器曝光时间优化方法研究

为了提高时间延迟积分互补金属氧化物半导体(TDI CMOS)图像传感器的成像质量,研究了TDI CMOS图像传感器中曝光时间的选取对成像质量的影响。基于行滚筒曝光读出原理,分别分析了曝光时间对信噪比(SNR)和调制传递函数(MTF)的影响机理,根据分析结果,提出在级数已选定的情况下,曝光时间的选取存在最优值,此时得到的图像质量较好。为验证结论,基于自主研发的TDI CMOS图像传感器芯片及现场可编程门阵列(FPGA)开发板,搭建了TDI CMOS图像传感器成像测试系统。实验中采用MTF×SNR作为评价图像质量的指标,实验结果表明,在选定的相机参数下,积分级数为8级,光强为20 lx时,TDI CMOS图像传感器曝光时间选取64 ms时所得到的图像质量最好,此时MTF×SNR最大。