提出一种改进的用时间放大技术来实现高精度时间测量的方法.即使用一个与对撞时刻严格同步的外时钟来标记输入信号的时刻,生成一个宽度介于一个到两个时钟周期的时间间隔;将标记后的时间间隔进行预设倍数的放大;再用一个具有多次击中能...提出一种改进的用时间放大技术来实现高精度时间测量的方法.即使用一个与对撞时刻严格同步的外时钟来标记输入信号的时刻,生成一个宽度介于一个到两个时钟周期的时间间隔;将标记后的时间间隔进行预设倍数的放大;再用一个具有多次击中能力的时间—数字转换(time-to-digital converter,TDC)芯片测量放大后的时间间隔,并结合物理的方法反推出输入信号到达的时刻.该方法由硬件实现,经验证明其能够获得好于25 ps的时间测量精度,可以满足北京谱仪三期(BESⅢ)改造工程的飞行时间(time of flight,TOF)测量电子学部分25ps的时间测量精度要求,也可应用到其他类似的高精度时间测量系统中.展开更多
基于CSMC 2P2M0.6μm CMOS工艺设计了一种全数字的模拟-时间转换芯片(Analog to Time Conversion:ATC).电路由核心电路单元、电平转换电路单元、ESD保护电路单元和输出缓冲器电路单元组成.整体电路采用Hspice和CSMC 2P2M的CMOS工艺的工...基于CSMC 2P2M0.6μm CMOS工艺设计了一种全数字的模拟-时间转换芯片(Analog to Time Conversion:ATC).电路由核心电路单元、电平转换电路单元、ESD保护电路单元和输出缓冲器电路单元组成.整体电路采用Hspice和CSMC 2P2M的CMOS工艺的工艺库(06mixddct02v24)仿真,基于CSMC 2P2M CMOS工艺完成版图设计,版图面积为1mm^2,并参与MPW(多项目晶圆)计划流片,流片测试结果表明,芯片满足设计目标,并可以IP核的形式应用于各种数字集成电路的设计中.展开更多
文摘提出一种改进的用时间放大技术来实现高精度时间测量的方法.即使用一个与对撞时刻严格同步的外时钟来标记输入信号的时刻,生成一个宽度介于一个到两个时钟周期的时间间隔;将标记后的时间间隔进行预设倍数的放大;再用一个具有多次击中能力的时间—数字转换(time-to-digital converter,TDC)芯片测量放大后的时间间隔,并结合物理的方法反推出输入信号到达的时刻.该方法由硬件实现,经验证明其能够获得好于25 ps的时间测量精度,可以满足北京谱仪三期(BESⅢ)改造工程的飞行时间(time of flight,TOF)测量电子学部分25ps的时间测量精度要求,也可应用到其他类似的高精度时间测量系统中.
文摘基于CSMC 2P2M0.6μm CMOS工艺设计了一种全数字的模拟-时间转换芯片(Analog to Time Conversion:ATC).电路由核心电路单元、电平转换电路单元、ESD保护电路单元和输出缓冲器电路单元组成.整体电路采用Hspice和CSMC 2P2M的CMOS工艺的工艺库(06mixddct02v24)仿真,基于CSMC 2P2M CMOS工艺完成版图设计,版图面积为1mm^2,并参与MPW(多项目晶圆)计划流片,流片测试结果表明,芯片满足设计目标,并可以IP核的形式应用于各种数字集成电路的设计中.