PDS显微密度计的性能测试及分析

ＰＤＳ（ＰｈｏｔｏｍｅｔｒｉｃＤａｔａＡｃｑｕｉｓｉｔｉｏｎＳｙｓｔｅｍ）的主要技术指标指的是该仪器的一些性能指标的极限值。由于在实际工作中，光密度精度和坐标精度与仪器的线性、噪声、速度、扫描方向、步长、孔径等参数相互依赖和制约，所以必须弄清它们之间的关系，才能够获得高精度的数据。然而每台ＰＤＳ显微密度计之间，这些相互制约的性能有很大的离散性，因此使某些参数的选取无固定方式，必须因不同型号的仪器和被研究图象的特征而变。为此，我们对本室引进的精密仪器ＰＤＳ显微密度计的主要性能进行了测试及分析，获得了较为满意的测试及分析结果，可供ＰＤＳ用户操作人员参考。

X射线照片密度与显微密度计信号电压之间关系的实验探讨

探索了 X射线照片密度与显微密度计信号电压之间的关系。利用曲线拟合得到了 X射线照片光密度与输出电压关系的公式。经公式计算的密度值与实测密度值之间差别不大 ,其标准估计误差为 0 .0 178,完全可以用计算密度值来代替实测密度值。直接取其显微密度计输出的电信号 ,经公式转换成光学密度值后再进行 X射线照片的各种性能测试 ,避免了部分测试和换算误差 ,克服了过去密度测量的不便 。

用星形测试卡测试屏-片系统MTF的实验探讨与应用

目的:探索用星形测试卡测试屏-片系统的调制传递函数(modulation transfe frunction,MTF)的方法,获得随空间频率连续变化的屏-片系统的MTF曲线。方法:把星卡的X射线照片用显微密度计分别沿黑、白楔条的角平分线方向进行扫描,将得到的数据用计算机处理,获得屏-片系统的MTF曲线。并将该方法得到的MTF曲线与用矩形波测试卡得到的MTF曲线进行比较。结果:通过星卡曝光—微密度计扫描的方法,测试得到了随着空间频率的增加而逐渐减小的屏-片系统的MTF曲线,曲线随着空间频率的变化而连续变化。结论:用星形测试卡可以获得随空间频率连续变化的屏-片系统的MTF曲线;并且用星形测试卡测试得到的MTF曲线,在空间频率的连续性上明显优于用矩形波测试卡得到的MTF曲线。

铝楔双倍曝光法测试X线胶片特性曲线及应用的实验探讨

目的 利用铝楔双倍曝光法测试X线胶片特性曲线。方法 分别对铝楔、铝梯进行单倍和双倍曝光 ,将所得到铝楔、铝梯照片的单倍曝光部分和双倍曝光部分 ,用显微密度计分别进行扫描 ,把所得数据用计算机编程处理 ,得到胶片特性曲线 ,并计算出γ值 ;将两种方法所测结果相比较。结果 铝楔双倍曝光法可以测试得到连续的胶片特性曲线 ,曲线的足部和直线部显示较好 ;用该方法测出的γ值与铝梯双倍曝光法所测结果的差别在允许范围之内 ;两种方法测试所得曲线的形状相似。结论 铝楔双倍曝光法可以作为一种胶片特性曲线测试方法 ;铝楔双倍曝光法与铝梯双倍曝光法相比 ,所测曲线更连续 ,这对于程序化测试屏 片MTF曲线。

感光材料与性能测试

TQ573.62 2002042899X 射线照片密度与显微密度计信号电压之间关系的实验探讨=Research on the relation between the op-tical dansity of X - ray and the output informationvoltage of micro - densimeters[刊,中]/李月卿,王昌元,郑浩,李建民(泰山医学院放射系.山东。

光学分析仪器

TH715.2 95021375PDS显微密度计的性能测试及分析=Measuringand analysis of the PDS microdensitometerperformance[刊,中]/邢锦云,左健,程庭柱(中国科技大学),高德平,陈光华(洛阳跟踪与通信技术所)//分析测试技术与仪器.—1994,(3).

放射设备、器械、技术

021392 计算机X线摄影系统中总威纳频谱测试的探讨/谢晋东…//中华放射学杂志.-2002,36(5).-391～394利用常规X线机对成像板曝光,改变空间频率处理的参数频率等级(RN)、频率类型(RT)、增强强度(RE)以及谐调处理参数旋转量(GA)来制作总的威纳频谱(WS)抽样照片,用显微密度计扫描,通过快速傅立叶变换来计算总的WS。认为:RN、RE和GA对总WS值有很大的影响,而RT的影响就很小。当处理临床影像时。