期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
大面积LiF晶体积分衍射效率的标定 被引量:1
1
作者 周殿忠 李正宏 徐荣昆 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 1996年第6期454-458,共5页
本文介绍了用连续X光谱测量晶体积分衍射效率的方法,并将所测结果与常规用双晶谱仪测量晶体摇摆曲线法所得结果进行了比较,对所测结果的合理性和实用性进行了讨论。
关键词 晶体积分衍射 效率 X光束强度测量
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部