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大面积LiF晶体积分衍射效率的标定
被引量:
1
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作者
周殿忠
李正宏
徐荣昆
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
1996年第6期454-458,共5页
本文介绍了用连续X光谱测量晶体积分衍射效率的方法,并将所测结果与常规用双晶谱仪测量晶体摇摆曲线法所得结果进行了比较,对所测结果的合理性和实用性进行了讨论。
关键词
晶体积分衍射
效率
X光束强度测量
下载PDF
职称材料
题名
大面积LiF晶体积分衍射效率的标定
被引量:
1
1
作者
周殿忠
李正宏
徐荣昆
机构
中国工程物理研究院核物理与化学研究所
出处
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
1996年第6期454-458,共5页
文摘
本文介绍了用连续X光谱测量晶体积分衍射效率的方法,并将所测结果与常规用双晶谱仪测量晶体摇摆曲线法所得结果进行了比较,对所测结果的合理性和实用性进行了讨论。
关键词
晶体积分衍射
效率
X光束强度测量
Keywords
Crystal integral diffraction efficiency Ross filter Scattering)
分类号
TL816.1 [核科学技术—核技术及应用]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
大面积LiF晶体积分衍射效率的标定
周殿忠
李正宏
徐荣昆
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
1996
1
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职称材料
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