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IC工艺流程检测
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作者 杜支华 《微电子技术》 1998年第Z1期52-60,共9页
随着IC电路技术的快速发展,其设计制造技术也越来越复杂。对如何检测、监控工艺制造过程(包括设计)中的物理、工艺、器件等特性、参数,是本文所介绍的主要内容。
关键词 薄层电阻测试结构 范得堡测试结构 金属-半导体接触窗口接触电阻测试结构 晶体管测试结构 单极(PN极)特性测试结构 电容测试结构
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