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题名C_(PK)在集成电路测试行业中的应用
被引量:3
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作者
谭雪
金兰
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机构
北京确安科技股份有限公司
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出处
《微处理机》
2017年第2期11-14,18,共5页
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文摘
制程能力指数(C_(PK))能反映测量系统处于稳定状态下的实际加工能力,分析评估过程的稳定性和控制能力,它是现代企业用于表示制程能力的指标,实质作用是反映制程合格率的高低。以晶圆级测试数据为例,使用MINITAB 16软件,将C_(PK)应用到集成电路测试行业中,首先对数据进行正态性检验,对符合正态分布的数据进行控制图分析,查看测试过程是否稳定、受控。最后,通过Capability Sixpacks工具考察处在稳定状态下的测量系统在某multi-site测试下的实际加工能力,并根据C_(PK)五个等级标准,在管理上作出相应的判断和处置,判断是否需要改善制程,为确保产品质量和测试稳定性提供了一种有效方法。
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关键词
测量系统
集成电路测试
晶圆级测试数据
制程能力指数
正态性检验
控制图分析
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Keywords
Measurement System
Testing of Integrated Circuits
Wafer level test data
Process Capability Index
Normality test
Control chart analysis
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分类号
TN47
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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