会聚束电子衍射中晶带轴和±G暗场图像的同时观察

在会聚束衍射中(CBED).晶体点群和空间群的标准测量方法需要四种类型的图象(正常衍射图,明埸象,暗场象和±G暗场象).在同一胶片上同时获取四种图象的方法已经报导过(JEOL,NEWS,24E.62,1986)。然而该方法所需要的样品必须具有1μm直径,相同厚度,无弯曲的薄区。因此此,法不适用于实际应用.本文介绍一种从样品中100nm直径薄区获得这些图象的具有使用价值的方法.该方法是通过调节物镜励磁电流和中间镜励磁电流来观察的:它的应用结果也作相应的描述。

透射电镜带轴系列倾转的数学模型设计

透射电镜(TEM)是一个集多功能于一体的微结构表征工具,对分析材料的形貌、结构和性能意义较大。TEM采集的数据是三维物体在二维空间的投影图,想要得到全面准确的信息,需将样品倾转至特定晶带轴方向。晶带轴系列倾转的操作主要依赖菊池极的位置,然而由于不同晶带轴之间的角度相差较大,在荧光屏上难以观测到多个不同菊池极,且倾转过程中样品位置会发生大幅度偏移,需在衍射和成像模式之间反复多次切换方可获得理想的结果。为降低带轴系列倾转的操作难度,该文建立数学模型,通过测量菊池线与水平方向的夹角,可简单快速地获得目标晶带轴所需的倾转角度。该工作为高校充分利用TEM检测晶体微观结构、确定取向关系提供具体的理论和实验指导。

电子背散衍射花样的数学特征

电子背散衍射(EBSD)花样揭示了材料的物相成分、晶体结构、晶粒取向、晶粒大小和晶界的信息。EBSD花样非常复杂,通常需要借助专门的计算软件才能解析。本文系统地研究了EBSD花样的数学特征,建立了任意晶体取向与EBSD花样之间的数理关系,推导了面心立方、体心立方和六方晶体的基本晶带轴的理论EBSD花样的数学特征,以及面心立方晶体的(001)<110>取向和(001)<100>取向的理论菊池(Kikuchi)花样特征。在实测EBSD花样的分析中与各晶系各点阵的基本晶带轴的理论EBSD花样特征比较,即通过图像特征对比,就可以直接确定实测EBSD花样所属的晶系、点阵和Kikuchi线交点对应的晶带轴[uvw],再由基本晶带轴的坐标计算出晶体取向,还能提供基本晶面信息,如原子密排晶面在样品中的空间分布,这有利于晶体的变形或生长机理研究。EBSD为单晶芯片质量检验提供了新方法。

M-EMS对铸坯低倍组织的影响

论述了M-EMS对60Si2Mn铸坯低倍组织(包括等轴晶带、中心缩孔、中心偏析、中心疏松)的影响。

单晶SADP标定程序编制的纯hkl法要点

指出为分析复杂结构晶体的单晶ＳＡＤＰ用ｈｋｌ法编制计算机程序时遇到的困难，提出一种纯ｈｋｌ法并给出了这种方法的特有部分的数理分析结果．

第一部分 原理概述

遵照伟大领袖毛主席“洋为中用”与“对外国的科学、技术和文化,不加分析地一概排斥,和前面所说的对外国东西不加分析地一概照搬,都不是马克思主义的态度,都对我们的事业不利”的教导,我们翻译了K.W.Andqews等著“电子衍射花样的解释”(新版本)这本书。本书论述了电子衍射几何学的基本问题,汇集了冶金方面常见晶系和物相的数据、图表,对工厂实验室的透射电镜工作者有一定参考价值。本书由我组集体翻译,由我所情报室同志参加校对。由于我们学习马列、毛主席著作不够,政治思想与业务水平低,书中谬误之处一定不少,恳切希望读者批评指正。承北京钢铁研究院六室大力支援本书的照相胶卷,在此表示深切的感谢。