基于机器视觉的薄膜晶点测定系统

晶点是薄膜上常见的一种过聚物缺陷,其存在对光学薄膜、电池薄膜等高端产品产生极大的危害,而人工目视检测容易导致漏检和误捡,因此,本文提出了一种基于机器视觉的薄膜晶点测定系统。该系统采用条纹背光源使晶点特征突显,在傅里叶变换后的频谱图中抑制条纹背景的频率,从而消除条纹背景得到晶点轮廓。对相机进行测量标定,用最小矩形拟合晶点轮廓,测量出晶点尺寸,测量精度可达0.017 mm。该系统实现对薄膜晶点的自动识别与测量,具有重要的工程应用价值和广阔的市场前景。