期刊文献+
共找到14篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
分布式并行处理和多晶片机系统 被引量:2
1
作者 郭庆平 《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 1993年第1期1-8,共8页
本文首先描述以CSP 理论为基础的一种经命名通道通信、有层次结构的分布式并行处理模型,然后详细分析、归纳occam 语言和晶片机(transputer)为支持和实现这种并行处理模型所具有的结构特征,并以具体系统为例探讨了以晶片机为结构组件构... 本文首先描述以CSP 理论为基础的一种经命名通道通信、有层次结构的分布式并行处理模型,然后详细分析、归纳occam 语言和晶片机(transputer)为支持和实现这种并行处理模型所具有的结构特征,并以具体系统为例探讨了以晶片机为结构组件构造的多晶片机系统在系统结构上的一般特性。对于多晶片机系统在九十年代可能的发展变化,也作了简要的分析评估。 展开更多
关键词 晶片机 分布式 并行处理
下载PDF
OCCAM并发进程通信在晶片机上的实现方式
2
作者 郭庆平 《计算机工程与应用》 CSCD 北大核心 1989年第10期32-36,共5页
本文从寄存器这一级剖析了OCCAM并发进程在晶片机(或多晶片机系统)中的通信方式,详细讨论了软通道和硬通道的实现机制,介绍了晶片机的通信协议,对深入了解晶片机的工作机制有所裨益。
关键词 OCCAM语言 并发进程通信 晶片机
下载PDF
晶片机内部结构与并发进程调度策略
3
作者 郭庆平 《交通与计算机》 1989年第3期11-20,共10页
本文介绍了晶片机的内部结构及其指令集,较详细地讨论了并发进程在晶片机中的调度策略,从指令和寄存器一级分析了晶片机的性能和机制。
关键词 晶片机 内部结构 并发进程
下载PDF
多晶片机系统中动态拓扑重构的算法研究 被引量:1
4
作者 高曙 郭庆平 《计算机工程》 CAS CSCD 北大核心 1993年第1期41-48,共8页
本文概述了多晶片机系统(multi-transputer system)中动态拓扑重构的必要性,指出可把拓扑分为规则与不规则的两类来分别进行处理,并着重研究了六种典型规则拓扑的实现.从而提供了一种在多晶片机系统中进行动态拓扑重构行之有效的方法.
关键词 晶片机 拓扑 动态重构 算法
下载PDF
新一代晶片机IMS T9000与并行处理
5
作者 孙敬伟 张祥 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 1993年第5期33-36,共4页
简介了INMOS公司近几代晶片机产品T212、T414、T800,着重分析和讨论了IMS T9000晶片机的功能、组织和结构.并简要说明了基于该机系统开发的软件工具和环境的支持,最后对INMOS晶片机对并发多进程处理功能的支持和多机系统的实现及其应用... 简介了INMOS公司近几代晶片机产品T212、T414、T800,着重分析和讨论了IMS T9000晶片机的功能、组织和结构.并简要说明了基于该机系统开发的软件工具和环境的支持,最后对INMOS晶片机对并发多进程处理功能的支持和多机系统的实现及其应用前景作了详尽的说明和讨论. 展开更多
关键词 晶片机 超标量 并行处理
下载PDF
基于SNMP协议的晶片自动分选机的集中监控系统的设计与实现 被引量:1
6
作者 鲍丽星 陈晓争 《工业控制计算机》 2006年第1期23-25,共3页
石英晶体是电子产品中不可缺少的基础元件,在晶体生产过程中,利用晶片分选机进行分选是提高晶体的产出率和质量的关键手段。采用SNMP网络管理协议开发的晶片分选机集中监控系统,对分选机进行的集中监控,解决了对晶体生产进行统筹管理的... 石英晶体是电子产品中不可缺少的基础元件,在晶体生产过程中,利用晶片分选机进行分选是提高晶体的产出率和质量的关键手段。采用SNMP网络管理协议开发的晶片分选机集中监控系统,对分选机进行的集中监控,解决了对晶体生产进行统筹管理的问题。 展开更多
关键词 SNMP网络管理 分选 集中监控
下载PDF
基于SNMP协议的晶片自动分选机的集中监控系统的设计与实现 被引量:1
7
作者 陈晓争 《通信与广播电视》 2005年第4期38-44,48,共8页
石英晶体是电子产品中不可缺少的基础元件,在晶体生产过程中,利用晶片分选机进行分选是提高晶体的产出率和质量的关键手段。采用SNMP网络管理协议开发的晶片分选机集中监控系统,对分选机进行的集中监控,解决了对晶体生产进行统筹管... 石英晶体是电子产品中不可缺少的基础元件,在晶体生产过程中,利用晶片分选机进行分选是提高晶体的产出率和质量的关键手段。采用SNMP网络管理协议开发的晶片分选机集中监控系统,对分选机进行的集中监控,解决了对晶体生产进行统筹管理的问题。 展开更多
关键词 SNMP网络管理 分选 集中监控
下载PDF
基于中文Windows平台的晶片自动分选机控制软件的设计
8
作者 周纯 《通信与广播电视》 1997年第2期66-68,共3页
本文简要介绍了晶片自动分选机,阐述了其系统控制软件的功能,给出了软件的总体框图,并对各功能模块进行了介绍。
关键词 分选 自动分选 WINDOWS平台 控制软件
下载PDF
进行复杂模拟不必用大型计算机
9
作者 S.L.Fornili 王明冲 《世界科学》 1990年第8期37-39,共3页
基于RISC的晶片机使许多计算机可作分子动力学研究、逻辑模拟等。传统计算机和计算技术不适合许多科技应用。我们在巴勒摩大学的研究证实,平行多处理机系统和平泞计算法可提高以下各种用途的运算逮度与效率,并降低费用,如且子力学计算... 基于RISC的晶片机使许多计算机可作分子动力学研究、逻辑模拟等。传统计算机和计算技术不适合许多科技应用。我们在巴勒摩大学的研究证实,平行多处理机系统和平泞计算法可提高以下各种用途的运算逮度与效率,并降低费用,如且子力学计算、蒙特卡罗与分子动力学模拟。 展开更多
关键词 计算 计算技术 晶片机
下载PDF
并行处理的理论和实践
10
作者 郭庆平 《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 1989年第11期17-22,共6页
本文综述了并行处理理论,着重介绍了按照通信顺序进程理论设计的晶片机和OCCAM语言.概述了英国学术界和工业界为维持和巩固在并行处理上的领先地位所作的努力.反映了世界上第五代计算机研制的一个侧面.
关键词 并行处理 晶片机 OCCAM语言
下载PDF
Recycling of AZ91 Mg alloy through consolidation of machined chips by extrusion and ECAP 被引量:4
11
作者 应韬 郑明毅 +1 位作者 胡小石 吴昆 《Transactions of Nonferrous Metals Society of China》 SCIE EI CAS CSCD 2010年第B07期604-607,共4页
AZ91 Mg alloy recycled by a solid state process and equal channel angular pressing(ECAP)exhibited a superior strength. The mechanical properties of AZ91 Mg alloy recycled from machined chips by extrusion at 623 K and ... AZ91 Mg alloy recycled by a solid state process and equal channel angular pressing(ECAP)exhibited a superior strength. The mechanical properties of AZ91 Mg alloy recycled from machined chips by extrusion at 623 K and ECAP at 573 K and 623 K were compared with those of the reference alloy which was produced from an as-received AZ91 Mg alloy block under the same conditions as the recycled alloy.The recycled specimens show a higher strength at room temperature than the reference alloy.The improvement of the tensile properties is attributed not only to the small grain size,but also to the dispersed oxide contaminants. 展开更多
关键词 Mg alloy machined chips equal channel angular pressing(ECAP) RECYCLING mechanical properties
下载PDF
An automated AFM for nanoindentation and force related measurements
12
作者 BAI Jiang-hua Andres La Rosa 《Journal of Measurement Science and Instrumentation》 CAS CSCD 2018年第4期347-353,共7页
A fully automated atomic force microscope(AFM)is presented.The mechanical motion of the AFM stage was controlled by three steppers.The fine motion of the AFM was controlled by an MCL one-axis piezo plate.A32.768kHz cr... A fully automated atomic force microscope(AFM)is presented.The mechanical motion of the AFM stage was controlled by three steppers.The fine motion of the AFM was controlled by an MCL one-axis piezo plate.A32.768kHz crystal tuning fork(TF)was used as the transducer with a probe attached.An acoustic sensor was used to measure the interactions between the probe and the sample.An SR850lock-in amplifier was used to monitor the TF signals.An additional lock-in amplifier was used to monitor the acoustic signal.A field programmable gate array(FPGA)board was used to collect the data in automatic mode.The main controller was coded with LabVIEW,which was in charge of Z-axis scan,signal processing and data visualization.A manual mode and an automatic mode were implemented in the controller.Users can switch the two modes at any time during the operation.This AFM system showed several advantages during the test operations.It is simple,flexible and easy to use. 展开更多
关键词 atomic force microscope(AFM) nano indentation acoustic sensing piezo drive crystal tuning fork LabVIEW lock-in amplifier 8051microcontroller
下载PDF
3-D TCAD simulation study of the single event effect on 25 nm raised source-drain FinFET 被引量:3
13
作者 QIN JunRui CHEN ShuMing CHEN JianJun 《Science China(Technological Sciences)》 SCIE EI CAS 2012年第6期1576-1580,共5页
Using Technology Computer-Aided Design(TCAD) 3-D simulation,the single event effect(SEE) of 25 nm raised source-drain FinFET is studied.Based on the calibrated 3-D models by process simulation,it is found that the amo... Using Technology Computer-Aided Design(TCAD) 3-D simulation,the single event effect(SEE) of 25 nm raised source-drain FinFET is studied.Based on the calibrated 3-D models by process simulation,it is found that the amount of charge collected increases linearly as the linear energy transfer(LET) increases for both n-type and p-type FinFET hits,but the single event transient(SET) pulse width is not linear with the incidence LET and the increasing rate will gradually reduce as the LET increases.The impacts of wafer thickness on the charge collection are also analyzed,and it is shown that a larger thickness can bring about stronger charge collection.Thus reducing the wafer thickness could mitigate the SET effect for FinFET technology. 展开更多
关键词 FINFET single event effect single event transient charge collection
原文传递
Fabrication of iridium oxide neural electrodes at the wafer level 被引量:2
14
作者 ZHANG He PEI WeiHua +10 位作者 ZHAO ShanShan YANG XiaoWei LIU RuiCong LIU YuanYuan WU Xian GUO DongMei GUI Qiang GUO XuHong XING Xiao WANG YiJun CHEN HongDa 《Science China(Technological Sciences)》 SCIE EI CAS CSCD 2016年第9期1399-1406,共8页
Electro-deposition, electrical activation, thermal oxidation, and reactive ion sputtering are the four primary methods to fabricate iridium oxide film. Among these methods, reactive ion sputtering is a commonly used m... Electro-deposition, electrical activation, thermal oxidation, and reactive ion sputtering are the four primary methods to fabricate iridium oxide film. Among these methods, reactive ion sputtering is a commonly used method in standard micro-fabrication processes. In different sputtering conditions, the component, texture, and electrochemistry character of iridium oxide varies considerably. To fabricate the iridium oxide film compatible with the wafer-level processing of neural electrodes, the quality of iridium oxide film must be able to withstand the mechanical and chemical impact of post-processing, and simultaneously achieve good performance as a neural electrode. In this study, parameters of sputtering were researched and developed to achieve a balance between mechanical stability and good electrochemical characteristics of iridium oxide film on electrode. Iridium oxide fabricating process combined with fabrication flow of silicon electrodes, at wafer-level, is introduced to produce silicon based planar iridium oxide neural electrodes. Compared with bare gold electrodes, iridium oxide electrodes fabricated with this method exhibit particularly good electrochemical stability, low impedance of 386 kW at 1 kH z, high safe charge storage capacity of 3.2 m C/cm^2, and good impedance consistency of less than 25% fluctuation. 展开更多
关键词 reactive ion sputtering iridium oxide wafer-level neural electrode
原文传递
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部