四钼酸铵生产中的晶界开裂理论

通过对四钼酸铵(ATM)晶体的显微观察和组成的化学分析提出了晶界开裂理论(Crystalline interface cracking theory),其中包括硬开裂和软开裂。结果表明:在ATM的晶界和表面分别存在着晶界结晶水和表面水的内应力和外应力。必然导致ATM晶体的开裂,其中包括有序的软开裂和无序的硬开裂。软开裂与硬开裂比例的控制取决于干燥温度与结晶温度之间的差值及升温速率。差值越小,升温速率越低,软开裂ATM所占比例越大,干燥ATM及钼粉粒度分布越均匀,平均粒度越可控。因此,控制温度差值及升温速率对于ATM质量控制有着非常重要的作用。

硫代乙酰胺(TAA)净化钼矿浸取液的方法

依据硫代乙酰胺(TAA)对钼浸取液的净化机理,试验了净化效果,并对净化液制备ATM的显微结构进行了晶界开裂产物的显微结构观察,对传统的酸洗净化方法进行了解剖。结果表明,TAA净化终点控制准确,避免了传统硫化铵无机硫化剂生成硫化物胶体对钼的包裹现象和钼的损失。同时表明,酸洗净化方法应当正确评价并删除;传统的干燥步骤应分为表面水和晶界结晶水等两步完成,藉以省略粉碎、筛分对环境和ATM产率造成的有害影响,并制得规则的、粒度均匀的高质量ATM产品。