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谷氨酸分批等电结晶中晶种表面积及其粒径对产品粒度分布的影响
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作者 杨飞 张建华 +1 位作者 张宏建 毛忠贵 《食品与发酵工业》 CAS CSCD 北大核心 2012年第8期17-22,共6页
在谷氨酸分批等电结晶过程中,添加晶种与否直接影响产品的粒度分布(CSD)。通过在谷氨酸结晶过程中添加不同晶种的方法,研究晶种表面积及其粒径对结晶的影响,以期获得谷氨酸分批等电结晶中添加晶种的最优条件。实验结果表明,对于平均粒... 在谷氨酸分批等电结晶过程中,添加晶种与否直接影响产品的粒度分布(CSD)。通过在谷氨酸结晶过程中添加不同晶种的方法,研究晶种表面积及其粒径对结晶的影响,以期获得谷氨酸分批等电结晶中添加晶种的最优条件。实验结果表明,对于平均粒径不同的晶种,添加的晶种表面积存在临界值Sc使得此时得到的产品粒度分布均匀,中位径(D50)最大。当晶种平均粒径位于67.3~91.9μm,晶种表面积为50 cm2时得到的产品D50最大、CSD最好,即该晶种粒径对应的Sc不大于50 cm2;晶种平均粒径位于103.7~117.7μm时对应的Sc为100 cm2;晶种平均粒径为154.8μm时对应的Sc不小于250 cm2;当晶种平均粒径大于235.9μm时得到的CSD为双峰。表面积相同时,与粒径小的晶种相比,粒径大的晶种破碎率大、吸收溶质的速率小,所以晶种粒径越大表面积临界值越大。 展开更多
关键词 表面积 晶种平均粒径 二次成核 谷氨酸 分批等电结
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