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比值采样法在智能薄膜厚度测量仪中的应用
1
作者
俞阿龙
《电工技术》
2002年第10期39-40,共2页
本文介绍比值采样法在薄膜厚度测量仪的应用,详细叙述了测量系统的组成原理和主要单元电路的设计。通过采用比值采样技术,在不采用高性能元件的前提下,提高系统测量精度。
关键词
智能薄膜厚度测量仪
比值采样法
单片机
测量
原理
线性化电路
薄膜
厚度
传感器
下载PDF
职称材料
题名
比值采样法在智能薄膜厚度测量仪中的应用
1
作者
俞阿龙
机构
淮阴师范学院
出处
《电工技术》
2002年第10期39-40,共2页
文摘
本文介绍比值采样法在薄膜厚度测量仪的应用,详细叙述了测量系统的组成原理和主要单元电路的设计。通过采用比值采样技术,在不采用高性能元件的前提下,提高系统测量精度。
关键词
智能薄膜厚度测量仪
比值采样法
单片机
测量
原理
线性化电路
薄膜
厚度
传感器
分类号
TB43 [一般工业技术]
下载PDF
职称材料
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作者
出处
发文年
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1
比值采样法在智能薄膜厚度测量仪中的应用
俞阿龙
《电工技术》
2002
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