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比值采样法在智能薄膜厚度测量仪中的应用
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作者 俞阿龙 《电工技术》 2002年第10期39-40,共2页
本文介绍比值采样法在薄膜厚度测量仪的应用,详细叙述了测量系统的组成原理和主要单元电路的设计。通过采用比值采样技术,在不采用高性能元件的前提下,提高系统测量精度。
关键词 智能薄膜厚度测量仪 比值采样法 单片机 测量原理 线性化电路 薄膜厚度传感器
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