光学元件表面浅划痕长度的定量检测研究

对于光学元件表面的浅划痕缺陷,在利用显微散射暗场成像技术对其进行定量检测的过程中,由于其成像亮度与背景光强非常接近,因此对疵病图像直接进行二值化处理将无法有效提取其中的划痕特征,从而影响定量检测结果的准确性。为了解决上述问题,提出了一种对于浅划痕长度的准确定量分析方法,其通过将疵病图像与背景图像相减后得到目标图像,进而对目标图像进行二值化处理和分析即可得到浅划痕的准确长度信息。该方法对于光学元件表面疵病的定量检测具有重要的意义和应用。

基于纳米探针形貌变化的碱性磷酸酶活性检测方法研究进展

碱性磷酸酶(ALP)不仅是一种重要的生物标志物,还是分子生物学和酶免疫分析中的重要工具酶。因此,建立灵敏、准确的ALP活性检测方法对疾病的诊断及生物医学具有重要意义。迄今为止,研究人员已经发展了许多检测ALP活性的分析方法,包括比色法和散射法等,这些方法的分析性能依赖于探针的特性。Au,Ag,Cu等贵金属纳米材料具有很强的局域表面等离激元共振(LSPR)效应,其特征吸收及颜色随形貌的变化而变化,可用于发展比色法检测ALP的活性。此外,纳米探针的暗场光散射同样具有形貌依赖性,可根据纳米材料形貌引起的散射光谱及散射光颜色的变化,建立单颗粒分析法以实现ALP活性的灵敏检测。目前,改变纳米探针的形貌主要有刻蚀、生长等方式,均可用于发展分析ALP活性的方法。本文对基于纳米探针形貌变化的ALP活性检测方法进行总结,并探讨ALP活性检测的提升空间,希望能为今后的相关工作提供一些启发。